“线程: 测试”中讨论的其它部件
大家好,团队
我的客户正在测试 TMS320F28065,并遇到一些问题。
问题:
MCU 在测试中被“缺少时钟检测电路”重置。
他们调查并发现该时钟异常 400纳秒。
环境:
外部20MHz 振荡器,PLL 使用90MHz
问题:
1.您是否有等效的时钟检测电路?
2.缺失时钟检测电路是否具有除缺失时钟以外的功能? 例如过压...
3.时钟缺失检测电路是否通过锁扣保持异常?
此致,
尤都
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大家好,团队
我的客户正在测试 TMS320F28065,并遇到一些问题。
问题:
MCU 在测试中被“缺少时钟检测电路”重置。
他们调查并发现该时钟异常 400纳秒。
环境:
外部20MHz 振荡器,PLL 使用90MHz
问题:
1.您是否有等效的时钟检测电路?
2.缺失时钟检测电路是否具有除缺失时钟以外的功能? 例如过压...
3.时钟缺失检测电路是否通过锁扣保持异常?
此致,
尤都
尤都
我们将从 第88页开始介绍 TRM www.ti.com/.../spruh18中缺失时钟检测逻辑的工作原理。 从本质上讲,设备的时钟输入驱动一个计数器,同时来自 PLL 的参考时钟驱动另一个计数器。 当主时钟计数器溢出时,它将重置 PLL 计数器。 如果时钟丢失,PLL 计数器将不会重置,当它溢出时,它将发出丢失时钟检测。
根据上述缺失时钟检测仅是该功能,没有 X 轴的电压监控器。 由于 X 轴是由 MCU 驱动的电路,所以我不知道如何存在过电压,除非有一些外部影响。
如果锁定是问题的根本原因,则很难说出逻辑有什么失败。 这将假设设备针见>二级管高于 VDDIO,或者如果我们专门讨论 X1/X2,我假设高于 VDD。
客户是否知道 X1输入端出现异常的原因?
最佳
马修
尤都
我们没有等效的电路可供共享,您看到的是根据 VSDL 构建设备的方式。 计数器都是 VDD 域中的逻辑。 客户是否尝试在 PLLSTS 寄存器中禁用 MCLKOFF 位时钟检测逻辑缺失,并注意此操作是否消失?
可能是过电压甚至在 X 线电路中造成锁扣事件,客户是否在系统发生时钟/直流缺失问题后观察到正常的 X 线活动,但缺失时钟检测逻辑仍报告问题? 我相信,在 TRM 中列出了从 MCD 中恢复的顺序,我将确保遵循这一顺序。
最佳
马修