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[参考译文] TMS320F28335：TMS320F28335闪存损坏

admin
Guru**** 2578945 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS320F28335, UNIFLASH

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1081863/tms320f28335-tms320f28335-flash-memory-corruption

部件号：TMS320F28335
“线程： 测试， UNIFLASH”中讨论的其它部件

您好，

我是一名固件工程师，主要与 C2000目标 TMS320F28335合作。
最近，我们遇到了一些有关 DSP 内存闪存损坏，程序区域损坏以及产品在现场出现故障的问题。 到目前为止， 我们有0.3%的产品出现了这个问题，这是非常高的。
在 TMS320F28335数据表中，TI 提到，如果不遵守断电顺序，可能会出现意外的闪存程序或擦除。 (数据表第43页)

是否还有其它任何情况下闪存擦除或程序会单独发生？

此目标的其他用户是否报告了相同的闪存损坏问题？

如果您希望我分享任何其他信息，请告诉我。

从我们的角度看，这是非常重要的，我们需要了解根本原因并加以解决。

我将感谢在这一问题上的任何帮助。

谢谢你。

  • 0
    TI__Guru**** 2578945 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    萨米，

                 请尽可能准确地回答以下问题：

    1. 故障出现需要多长时间？
    2. 故障的确切性质是什么？
    3. 在出现故障的设备上，您是否能够将其连接到 CCS 以检查闪存内容？
    4. 如果是，您能否确定闪存损坏的程度？ 例如，您是否看到几个位翻转，或者几个字或几个扇区？
    5. 您是否能够对设备进行重新编程？
    6. 您使用什么方法对设备进行编程？
    7. 在断电期间，您能否提供以下信号的范围捕获：VDDIO，VDD，-XRS
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    TI__Guru**** 2578945 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    你好，Haresh，

    感谢你的回复。

    请在下面找到我的答案：

       1.故障出现需要多长时间？

    我没有确切的信息，但故障发生在现场。

    产品在我们的工厂进行测试=>产品已发运给我们的客户=>我们的客户将其安装在最终系统中并进行测试=>产品将进入发生故障的现场。

    我们可以观察到，这种情况不会很快出现。

      故障的确切性质是什么？

    DSP 的闪存损坏，某些扇区[B 至 H]包含0xFF，而其他扇区包含0x00，除非扇区 A 只有一个主板显示损坏的数据(某些字节包含错误的值)。

      3.在发生故障的设备上，您是否能够将其连接到 CCS 以检查闪存内容？

    我使用的是 UniFlash，没有任何问题

      4.如果是，您是否能够确定闪存损坏的程度？ 例如，您是否看到几个位翻转，或者几个字或几个扇区？

    州 起始地址 结束地址 DSP 的闪存状态
    H 区 30万 307型 FFF 不相同，为空(0xFF)
    部门 G 308000 30个 FFFF 不相同，为空(0xFF)
    F 区 310000 317FFF 相同(空 (0xFF))  
    E 区 318000 31个 FFFF 相同，但最后128个空字节(0x00)除外
    D 区 320000 327FFF 不相同，空数据(0x00)
    C 区 328000 32个 FFFF 不相同，空数据(0x00)
    B 区 330000 337FFF 相同(空(0xFF))
    A 区 338000 33个 FFFF 相同，包含数据

      5.您是否能够对设备进行重新编程？

    是的

      6.您使用什么方法对设备进行编程？

    UniFlash

      7.您能否在断电期间提供以下信号的范围捕获：VDDIO，VDD，-XRS

    我需要记录这些信息，我将在发布这篇文章后回复。

    谢谢你

  • 0
    TI__Guru**** 2578945 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    好的，当闪存损坏时，闪存不会保留已编程应用程序的任何部分，但扇区中填充了0xFFFF 或0x0000。  

    1. 设备是否会经历大量的电源开/关循环？
    2. 设备出厂后，闪存是否在现场重新编程？
    3. 此设计已投入生产多长时间？
  • 0
    TI__Guru**** 2578945 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    你好，Haresh，

    请在下面找到我的答案：

    1. 设备是否会经历大量的电源开/关循环？
      是的，电源循环很多。 我在无故障的情况下进行了单独的电源循环测试，测试周期超过100,000次。
    2. 设备出厂后，闪存是否在现场重新编程？
      该设备编程在客户的生产线上，但不在现场。
    3. 此设计已投入生产多长时间？
      自2016-2017年以来。

    我对 F28335闪存有一些疑问：

    1. F28335闪存技术不是 Nor，这是否正确？
    2. 此闪存的估计使用寿命是多少？
    3. 确保在不损坏的情况下保存闪存数据的绝对最大存储温度是多少？

    谢谢你

  • 0
    TI__Guru**** 2578945 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    [引用 userid="514802" url="~/support/icros/c2000微控制器-组/CC2000 /f/c2000微控制器-论坛/1081863/TMS320F28335-TMS320F28335-flash-memory-corruption/4005828#4005828">是，电源循环很多。 我单独进行了一次电源循环测试，测试周期超过100,000次，无故障。

    好的。 但是，如果您只使用一台设备进行了这项实验，我们就不应该过分依赖这些数据。

    自2016-2017年以来，[引用 userid="514802" url="~ë/support/icros/C2000 -微控制器-组/CC2000 /f/C2000 -微控制器-论坛/1081863/TMS320F28335-TMS320F28335-flash-memory-corruption/4005828#4005828"]。[/引用]

    好的，这确实提供了一定程度的信心。 不管怎样，我想看看断电波形。 到目前为止，您在产品生命周期(即2016年)内发货了多少块主板，以及您看到了多少次故障。 请随意与我私下分享这些数据。 您可以通过向我提出友谊请求来实现这一点。 只需将光标悬停在我的姓名上即可查看选项。

    [引用 userid="514802" url="~/support/icros/c2000微控制器-组/CC2000 /f/c2000微控制器-论坛/1081863/TMS320F28335-TMS320F28335-flash-memory-corruption/4005828#4005828"] F28335闪存技术是否正确？

    我需要与 Flash 专家核实这一点。 可能，保密协议可能有必要披露此类信息(如果有)。

    [引用 userid="514802" url="~/support/icros/c2000微控制器-组/CC2000 /f/c2000微控制器-论坛/1081863/TMS320F28335-TMS320F28335-flash-memory-corruption/4005828#4005828"]此闪存的估计使用寿命是多少？

    15年，适用于 www.ti.com/lit/SPRS439第95页所示的条件。

    [引用 userid="514802" url="~ë/support/temperaturs/c2000-icroms-group/c2f/c2000微控制器-forume/1081863/TMS320F28335-TMS320F28335-flash-memory-corruption/4005828#4005828"]可确保在不损坏的情况下保存闪存数据的绝对最大存储温度是多少？

    数据表中显示的150'C 是绝对最高温度。 125°C 应该可以。