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https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1091936/tms320lf2407a-20-years-later-what-is-the-reliability-and-data-retention-of-flash-on-the-tms320lf2407a
您好，
我们正在调试使用TMS320LF2407A器件的返回嵌入式系统上的一些奇怪问题。 此设备大约在20年前进行了编程。
我们是否应该考虑闪存中的比特可能随着时间推移而发生翻转(保留问题)？
在这么长时间之前编程后，单位翻转的概率是多少？
此外，我确实查看了您的可靠性数据应用说明(SPRA963B)中的适合率，但不清楚这是否包括闪存可靠性。 请澄清。
www.ti.com/.../spra963b.pdf
谢谢你
Bob，
SPRA963不能解决闪存可靠性/耐用性问题。 我已经联系了闪电专家。 请给我几天的时间来获得答案。 这是一个支持 非常有限的旧设备。
以下是我们的闪存专家必须要说的话：
"保留将始终取决于使用条件。 因此，我们需要深入了解自对阵列编程以来设备所处的条件。 但是，假设是标称条件(例如<85'C)，位翻转的概率较低。 始终存在缺陷的可能性，但内在可靠性应该非常出色。
既然你说自编程20年以来，我也假设这里没有循环阵列， 即没有重新编程。
总之 ，位翻转的概率很低，但我不能完全排除导致低场泄漏现象的缺陷。”
