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[参考译文] TMS320F2.8377万D：关于勘误表&quot；Flash：单位ECC错误可能导致对单位错误ISR&quot的无限调用；

admin
Guru**** 2538930 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/632972/tms320f28377d-about-errata-flash-a-single-bit-ecc-error-may-cause-endless-calls-to-single-bit-error-isr

部件号：TMS320F2.8377万D

您好，TI专家，

我的客户对勘误表有一些疑问：“闪存：单位ECC错误可能导致无限次调用单位错误ISR”。

即使从RAM执行/提取，也会发生此问题吗？

err_threshold.threshold位于 flash_ecc_regs寄存器中。

如果从RAM获取时检测到单位ECC。 在这种情况下，它是否会影响memory_error_regs寄存器？

此致，

横次郎

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    TI__Guru**** 2538930 points
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    Yojiro，

    勘误表仅适用于闪存单位错误。

    您在RAM上的回答正确。

    谢谢，此致，

    Vamsi

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    TI__Guru**** 2538930 points
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    您好，Vamsi：

    感谢您的支持。

    如果设置为CEINTEN=1且CERRTHRES=0。
    --> memory_error_regs：可纠正的错误阈值为0，且已启用可纠正的错误中断。
    当从RAM fetch进行单位ECC检测时，是否出现与此问题相同的无限循环？

    此致，
    横次郎
  • 0
    TI__Guru**** 2538930 points
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    Yojiro，

    无限循环勘误表不适用于RAM单位错误。

    谢谢，此致，
    Vamsi

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    TI__Guru**** 2538930 points
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    您好，Vamsi：

    感谢您的回复。
    我明白了！

    此致，
    Yane