我们有一个自定义板和自定义调试器，带有FTDI芯片FT2232，工作正常。我 的PC中的调试突然停止工作
我们可以 从不同 的PC调试相同的系统，但不能从我的PC调试。 我已删除所有驱动程序并卸载和
已再次重新安装CCS和驱动程序，但仍面临相同的问题。
我无法确定问题。
我已连接检测到的端口并从调试器中记录
请帮助我了解并解决问题。
此致
Kamaraj
请参阅下面的错误消息“我从调试器中得到”。
[开始：德州仪器(TI) XDS100v1 USB调试探头_0]
执行以下命令：
%ccs_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafile -RV -o -f inform，logfile=yes -S pathlength -S完整性
[结果]
——— [打印主板配置路径名]------------------
C：\Users\kxs41\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\
TI\0\0\BrdDat testBoard.dat
——— [打印reset-command软件日志文件]------------------
该实用程序选择了100或510类产品。
该实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
图书馆的构建日期为2017年7月21日。
库的构建时间是'19:36:41'。
库软件包版本为7.0 ．48.0。
库组件版本为35.35 ．0.0。
控制器不使用可编程FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x0.0004万)。
控制器的插入长度为'0'(0x0万000000)。0万。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。
——— [打印reset-command hardware log-file (重置命令硬件日志文件)]------------------
扫描路径将通过切换JTAG TRST信号重置。
控制器是FTDI FT2232，带USB接口。
从控制器到目标的链路是直接链路(不带电缆)。
该软件配置为支持FTDI FT2232功能。
控制器无法监控EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控EMU[1]针脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的正时。
控制器无法控制输入引脚上的正时。
扫描路径链路延迟已完全设置为'0'(0x0000)。
——— [从PLL生成的JTAG TCLK输出的日志文件]-------
没有用于对JTAG TCLK频率进行编程的硬件。
——— [测量最终JTAG TCLKR输入的源和频率]-------
没有用于测量JTAG TCLK频率的硬件。
——— [在JTAG IR和DR上执行标准路径长度测试]-----------
此路径长度测试使用64个32位字的块。
JTAG IR指令路径长度测试失败。
JTAG IR指令扫描路径为卡在一个位置。
JTAG DR旁路路径长度测试失败。
JTAG DR旁路扫描路径为卡在一个位置。
——— [对JTAG IR执行完整性扫描测试]---------------
此测试将使用64个32位字的块。
此测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF执行测试。
扫描测试：1，跳过：0，失败：0
使用0x0万执行测试。
测试2字0：扫描0x0万并在0xFFFFFFFF中扫描。
测试2字1：扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
测试2字2：扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
测试2字3：扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
测试2字4：扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
测试2字5：扫描0x0万并使用0xFFFFFFFF进行扫描。
测试2字6：扫描0x0万并使用0xFFFFFFFF进行扫描。
测试2 Word 7：扫描0x0万并使用0xFFFFFFFF进行扫描。
已提供前8个错误的详细信息。
实用程序现在只报告失败测试的计数。
扫描测试：2，跳过：0，失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3，跳过：0，失败：2
使用0x01FC1F1D执行测试。
扫描测试：4，跳过：0，失败：3
使用0x5533CCAA执行测试。
扫描测试：5，跳过：0，失败：4
使用0xAACC3355执行测试。
扫描测试：6，跳过：0，失败：5
某些值已损坏- 83.3 Percent (默认值百分比)。
JTAG IR完整性扫描测试失败。
——— [在JTAG DR上执行完整性扫描测试]------------------
此测试将使用64个32位字的块。
此测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF执行测试。
扫描测试：1，跳过：0，失败：0
使用0x0万执行测试。
测试2字0：扫描0x0万并在0xFFFFFFFF中扫描。
测试2字1：扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
测试2字2：扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
测试2字3：扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
测试2字4：扫描0x0万并扫描0xFFFFFFFF。
测试2字5：扫描0x0万并使用0xFFFFFFFF进行扫描。
测试2字6：扫描0x0万并使用0xFFFFFFFF进行扫描。
测试2 Word 7：扫描0x0万并使用0xFFFFFFFF进行扫描。
已提供前8个错误的详细信息。
实用程序现在只报告失败测试的计数。
扫描测试：2，跳过：0，失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3，跳过：0，失败：2
使用0x01FC1F1D执行测试。
扫描测试：4，跳过：0，失败：3
使用0x5533CCAA执行测试。
扫描测试：5，跳过：0，失败：4
使用0xAACC3355执行测试。
扫描测试：6，跳过：0，失败：5
某些值已损坏- 83.3 Percent (默认值百分比)。
JTAG DR完整性扫描测试失败。
[结束：Texas Instruments XDS100v1 USB调试探头_0]
