主题中讨论的其他器件:冲击
您好!
我将 F28388D 控制器用于航天应用。 我有一个关于"乱发事件"和 MBU 的问题,我知道 ECC 模块存在。
要配置将在 EALLOW 和 EDIS 下的任何外设、我的问题是 SPI 外设时钟、尽管在初始化期间正确配置了 SPI 外设时钟、能否由于 SEU 修改其值。
谢谢、
Nagesh
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您好!
我将 F28388D 控制器用于航天应用。 我有一个关于"乱发事件"和 MBU 的问题,我知道 ECC 模块存在。
要配置将在 EALLOW 和 EDIS 下的任何外设、我的问题是 SPI 外设时钟、尽管在初始化期间正确配置了 SPI 外设时钟、能否由于 SEU 修改其值。
谢谢、
Nagesh
Nagesh、
我想了解我们拥有/可以共享哪些仿真数据、这在器件上任何逻辑的时基故障率等方面是通用的 我需要在这里呆几天、因为有些人在下周之前都是 OOO。 我还将研究是否需要签订 NDA 以并行方式共享此数据。
在保护方面、EALLOW/EDIS 只有在辐射事件导致 CPU 指令解码错误时才会有所帮助。 如果辐射冲击是 SPI 时钟寄存器控制/分频器的局部冲击、这将不会有帮助。
另一个选项是能够检测是否发生这种情况、在本例中、我们可以使用 eCAP 模块对 SPICLK 信号进行采样、这将检测某个点是否发生变化。 这将在 SW 中实现、但这是防止 SEU 事件引起问题的另一种方法。
最棒的
Matthew
Nagesh、
感谢您在这里的耐心等待。 请参阅此应用报告 、其中提供了有关如何申请 C2000安全包的说明。 此封装中包含 FIT 率估算器、可让您输入磁通因子来更改应用的高度、并从辐射效应中生成预期的 FIT。 目前、F2838x 器件仍处于 WIP 状态、但包含 F2837x、因此您可以得到近似值(F2837x 仅缺少 F2838x 和相关存储器的 CM)
我还想说的是、所有闪存以及某些 SRAM 都具有 ECC 逻辑、这将纠正单个位故障并每128位检测2位故障。 这将在安全指南中提及、并且应包含在估算器中。
最棒的
Matthew