[参考译文] TMS320F28069M：可以#39；t 通过 XDS100仿真器进行连接

Dave、

XDS110是与 XDS100完全不同的设计、它不使用 FTDI 芯片。   

对于 XDS100v2、-151错误通常意味着 EEPROM 未编程。  对于供应商 ID 和产品 ID、FTProg 有何评价？  还是 FTProg 完全不工作？

此致、

John

尊敬的 John：

很抱歉耽误你的回答。 我的家人生病了、我不得不多花几天的时间休息。 不用说，纪念日周末有点萧条。 我希望您的工作进展顺利(如果您来自美国)。

我找不到 XDS100的驱动程序、因此我想 XDS110可能会这样做。 总之、FTProg 具有以下 USB 芯片参数：

芯片类型：FT2232H

供应商 ID：0x0403

产品 ID：0x6010

位置 ID：0x131

EEPROM 类型：93C56 EEPROM

谢谢、

Dave

Dave、

很遗憾听到这种疾病。  我在加拿大，所以我没有纪念日(只是一个更安静的日子)。

查看这些值、PID 和 EEPROM 类型错误。  这里还有另一个线程、另一个团队成员在其中有此操作的分步说明。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1000024/tmdscncd28379d-tms320f28379d-programming/3701135#3701135

此处是他用于 EEPROM 的模板

https://software-dl.ti.com/ccs/esd/documents/xdsdebugprobes/files/XDS100v2.zip

您能否尝试一下、看看它是否能让您更进一步？

此致、

John

尊敬的 John：

这是 FTProg 的结果。 从所有外观来看、似乎都成功地对 EEPROM 进行了编程。 它甚至显示"已完成编程"、显示序列号等...

但是、当我尝试使用 Code Composer 时、仍然出现错误-151 @0x0。

不过、还有另一个复杂问题。 昨天、出于某种原因、每当我尝试启动 Code Composer 时、我都会收到以下消息：

我卸载了 CCS 并使用不同的工作区重新安装它。 当我启动 CCS 时、我尝试在"View"菜单下查找目标配置、但它并没有出现。 我认为"嗯、可能需要在原始工作区中才能找到目标配置文件的路径。" 因此、我将工作区切换回原始文件夹、并再次收到上述消息。 我想通过再次更改工作区来解决此问题、但我无法打开 CCS 来实现此目的。 我只是希望我不必再次卸载并重新安装 CCS。

谢谢、

Dave

您好、Dave、

看起来 EEPROM 没有使用模板中的值进行成功编程。 编程前是否明确应用了模板？ 打开模板文件只需打开文件进行编辑。 必须使用下面显示的步骤将模板显式应用到器件：

谢谢

Ki

是的、  

[引用 userid="294039" URL"~/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1005238/tms320f28069m-can-t-connect-through-xds100-emulator/3720942 #3720942"]

在控制面板中、这些端口位于"Texas Instruments Debug Probers"下、并按列出

XDS 100 Class 辅助端口和 XDS 100 Class 调试端口

[/报价]

是的、现在看起来更好。 之后您是否仍然会遇到-151错误？

Dave、

FTProg 值现在看起来要好得多。  我希望 CCS 现在能够与 FTDI 芯片通信。   

您可以尝试清理工作区以查看是否允许您打开原始工作区以查找目标配置文件

https://software-dl.ti.com/ccs/esd/documents/users_guide/ccs_troubleshooting.html#clean-the-workspace-or-try-using-a-new-one

那么、您在 CCS 的"视图"菜单中看不到新工作区的"目标配置"吗？

如果您在"CCS Edit"或"CCS Debug"视图中、应该会看到这种奇怪的情况。  如果您将鼠标放在右上角的图标上、是否显示"CCS Edit"、"CCS Debug"或其他内容？

此致、

John

尊敬的 John 和 Ki：

我在工作区中清空了.metadata 文件夹、这似乎解决了 CCS 问题。 我可以看到目标配置-实际上是整个列表。

-151错误消失、只能替换为：

以下是我尝试测试连接的结果：

[开始：德州仪器 XDS100v2 USB Debug Probe_0]

执行以下命令：

%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

[结果]


---- [打印电路板配置路径名]---------------

C：\Users\dreagan\AppData\Local\TEXASI~1\
   CCS\ccs1031\0\0\BrdDat\testBoard.dat

---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------

此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
库构建日期为"2021年4月29日"。
库构建时间为'17：49：40'。
库软件包版本为'9.3.0.00058'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------

扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---

没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。

---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----

此路径长度测试使用64个32位字的块。

JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径卡在一个位置。

JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径卡在一个位置。

---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG IR 完整性扫描测试失败。

---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG DR 完整性扫描测试失败。

谢谢、

Dave

[引用 userid="294039" URL"~/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1005238/tms320f28069m-can-t-connect-through-xds100-emulator/3720975 #3720975"]-151错误消失，

好极了。 看起来 EEPROM 已成功编程。

[引用 userid="294039" URL"~/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1005238/tms320f28069m-can-t-connect-through-xds100-emulator/3720975 #3720975" JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径卡在一个位置。

JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径卡在一个位置。[/QUERP]

在对 XDS100v2的 EEPROM 进行编程后、您似乎还遇到了与另一个线程中的用户相同的问题。

有关错误的说明，请参阅以下文章：

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1000024/tmdscncd28379d-tms320f28379d-programming/3702297#3702297

这种情况下的根本原因在原理图中：

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1000024/tmdscncd28379d-tms320f28379d-programming/3709853#3709853

谢谢

Ki

您好、Ki 和 John、

您提到我的主题以结尾

"在隔离器件上连接 TDO 引脚存在问题。 这与扫描测试失败一致。 如果可能、请移除隔离器件、并将 TDO 走线短接至隔离边界以进行调试。"

我还隔离了 TDO 信号、因此这似乎是相同的问题。 那么、我应该将 TDO 线路直接从以 USB 接地为基准的 FT2232引至以电路接地为基准的微控制器？

谢谢、

Dave

您好、Dave、

不需要、您还需要将两个接地端连接在一起、这当然会消除隔离。 在另一个线程中、目标只是验证 TDO 连接确实是问题。 假设这确实是问题、则需要通过硬件旋转来解决问题。