[参考译文] TMS320F280049：查找 F280049的 ADC ENOB 与采样率

您好、Aaron、

ENOB 和采样率之间不存在固有关系。   

ENOB 和输入信号带宽之间存在关系。  随着输入信号带宽的增加、由于 ADC S+H 中的孔径抖动、SNR 将在某个点开始降低  您可以看到、我们为此器件指定100kHz 的 SNR；如果输入信号快于此 SNR、则会开始降低。

假设 ADC 的采样带宽大于您所需的带宽、您可以对输入进行过采样以提高分辨率(但不是精度)。  这不是自动的；客户需要使用处理资源来收集和平均附加样本。 请参阅以下 e2e 线程、了解有关通过过采样实现 ENOB 增益的讨论：

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000/f/171/p/815285/3017272#3017272  

Devin、

感谢您提供的信息反馈。 要继续、您是否有用于更高 ENOB 的额外采样的示例代码？ 我们正在尝试将器件推送到客户手中。 BTW、CLB 能否释放处理带隙。  我们要做的是"降低客户发明成本"、以便从竞争对手转向我们的器件。

如果您有任何疑问，请与我分享。 aaron.chen@ti.com

您好、Aaron、

过采样可以只是触发多个采样、然后一起对它们求平均值。  但是、实际上、您甚至不会执行平均值的除法部分(以保留所有位)、因此它仅涉及对样本求和。   

采集和求和样本的方法需要根据所需的过采样程度而有所不同。  对于4-16个样本、您可能只需使用冗余 SOC 进行采样。  TRM 中有一个有关以下内容的模板：

使用较高 N 的过采样会变得更加复杂；您需要使用 DMA 来累积样本或每8-16个样本执行一次 ISR。   您可能还需要一个额外的触发源、例如运行速度比主 ePWM 快 N 倍的 ePWM。