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[参考译文] TMS320F28377S：28377S ADC 玉米饼

admin
Guru**** 1997655 points
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/593625/tms320f28377s-a-28377s-adc-questione

器件型号：TMS320F28377S

我的客户使用28377S 执行逆变器、他们发现 ADC 的所有通道并非都具有相同的性能。 例如，它们使用两个通道来测量同一信号，结果相差很大。在数据表中，我发现每个通道的 CP 差异很大。这是否是原因？我们为什么要这样设计？ ？，我们是否有一些关于客户的建议？现在，我的客户使用异常信道 获取温度信号，使用正常信道进行电流采样。

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    TI__Guru**** 1997655 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好、Shuai、

    电容差异是由于 ADC 通道之间的内部布线差异造成的。 除非 S+H 持续时间太短(VDAC/B0引脚除外、因为电容显著增加、导致趋稳速度变慢)、否则这可能不会显著影响 ADC 结果。

    更有可能的是、与缓冲 DAC 复用的引脚上有一个寄生~50k 下拉电阻。 即使在该器件上禁用 DAC、也会出现此寄生下拉电阻。 如果输入驱动器不是很强、这会对 ADC 转换结果产生不利影响。
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    TI__Guru**** 1997655 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好 Devin、
    打扰一下，这个问题，我已经给你发了一封邮件，你能帮你做一些分析吗？ 非常感谢！ 谢谢你。