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[参考译文] CCS/TMS320F28379D:对 MCU 进行编程时出现错误-2131

Guru**** 2195940 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS320F28379D, TMS320F28335
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/666891/ccs-tms320f28379d-error--2131-when-programming-mcu

器件型号:TMS320F28379D
主题中讨论的其他器件: TMS320F28335

工具/软件:Code Composer Studio

尊敬的 TI 专家:

我们有一位客户使用 TMS320F28379D 定制 PCB、当使用 CCS 对 MCU 进行编程时、会出现以下错误:

CCS 版本为 v7.2、客户已按照相同的步骤成功对 TMS320F28379D Launchpad 进行编程。 因此、它可能不是 IDE 或配置错误。

我们已经检查了原理图、似乎一切都正常... (原理图的 MCU 部分 位于此处 e2e.ti.com/.../4760.SCHEMATIC1-_5F00_-P02_5F00_MCU.pdf)

VDDIO 为3.3V、VDD 为1.2V、电源看起来正常。

VDD 上的去耦电容为2.2uF*10、MCU 的 PowerPAD 焊接好、并连接到 GND。

晶体振荡器的工作频率为20MHz、可以使用示波器观察正弦波形、此外、复位电路也按预期工作。  

我建议客户移除晶振、看看他们是否收到另一个错误代码、例如"器件处于低功耗模式...... "、如果在未安装晶体振荡器时对 TMS320F28335进行编程、则会报告该错误。 但它们会得到相同的"Error -2131"。  

请提供一些建议。 在哪里可以找到解释错误代码的文档、例如"Error -2131"?

请提供任何指导。

P.S.

在 CCS 目标配置选项卡中执行"测试连接"时、会打印以下消息:

[开始:德州仪器 XDS100v2 USB Debug Probe_0]

执行以下命令:

%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

[结果]


---- [打印电路板配置路径名]---------------

C:\Users\Nestor~1\AppData\Local\TEXASI~1\
CCS\Program\0\0\BrdDat\testBoard.dat

---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------

此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
库构建日期为"2017年第二日"。
库构建时间为'12:59:57'。
库软件包版本为'6.0.628.1'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------

扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---

没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。

---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----

此路径长度测试使用64个32位字的块。

JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径卡在一个位置。

JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径卡在一个位置。

---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试:1、跳过:0、失败:0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试:2、跳过:0、失败:1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试:3、跳过:0、失败:2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试:4、跳过:0、失败:3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试:5、跳过:0、失败:4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试:6、跳过:0、失败:5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG IR 完整性扫描测试失败。

---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试:1、跳过:0、失败:0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试:2、跳过:0、失败:1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试:3、跳过:0、失败:2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试:4、跳过:0、失败:3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试:5、跳过:0、失败:4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试:6、跳过:0、失败:5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG DR 完整性扫描测试失败。

[结束:德州仪器 XDS100v2 USB 调试探针_0]

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    大家好、,

    问题已解决。

    我们使用 TMS320F28379D Lauchpad、并尝试重现此错误、并成功地断开了 S1位3。

    S1的位3是 JTAG_TRST 和 MCU nTRST 连接。

    我们检查了使用的 XDS100v2、发现20引脚 ARM 接头的引脚15实际上连接到了10引脚 ARM 接头的引脚10、即 nSRST。 我们将20引脚 ARM 接头的引脚15短接至引脚3、如下图所示。 那么问题就解决了!

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    你(们)好

    很高兴找到了解决方案。

    查看您链接到的原理图、我没有注意到 TRSTn 有一个下拉电阻器。

    提醒一下:
    e2e.ti.com/.../3145.trstn-required-external-pull-down

    谢谢
    Nabil