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工具/软件:Code Composer Studio
尊敬的 TI 专家:
我们有一位客户使用 TMS320F28379D 定制 PCB、当使用 CCS 对 MCU 进行编程时、会出现以下错误:
CCS 版本为 v7.2、客户已按照相同的步骤成功对 TMS320F28379D Launchpad 进行编程。 因此、它可能不是 IDE 或配置错误。
我们已经检查了原理图、似乎一切都正常... (原理图的 MCU 部分 位于此处 e2e.ti.com/.../4760.SCHEMATIC1-_5F00_-P02_5F00_MCU.pdf)
VDDIO 为3.3V、VDD 为1.2V、电源看起来正常。
VDD 上的去耦电容为2.2uF*10、MCU 的 PowerPAD 焊接好、并连接到 GND。
晶体振荡器的工作频率为20MHz、可以使用示波器观察正弦波形、此外、复位电路也按预期工作。
我建议客户移除晶振、看看他们是否收到另一个错误代码、例如"器件处于低功耗模式...... "、如果在未安装晶体振荡器时对 TMS320F28335进行编程、则会报告该错误。 但它们会得到相同的"Error -2131"。
请提供一些建议。 在哪里可以找到解释错误代码的文档、例如"Error -2131"?
请提供任何指导。
P.S.
在 CCS 目标配置选项卡中执行"测试连接"时、会打印以下消息:
[开始:德州仪器 XDS100v2 USB Debug Probe_0]
执行以下命令:
%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity
[结果]
---- [打印电路板配置路径名]---------------
C:\Users\Nestor~1\AppData\Local\TEXASI~1\
CCS\Program\0\0\BrdDat\testBoard.dat
---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------
此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
库构建日期为"2017年第二日"。
库构建时间为'12:59:57'。
库软件包版本为'6.0.628.1'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。
---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------
扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。
---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---
没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。
---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----
没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。
---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----
此路径长度测试使用64个32位字的块。
JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径卡在一个位置。
JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径卡在一个位置。
---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----
此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试:1、跳过:0、失败:0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试:2、跳过:0、失败:1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试:3、跳过:0、失败:2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试:4、跳过:0、失败:3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试:5、跳过:0、失败:4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试:6、跳过:0、失败:5
一些值已损坏- 83.3%。
JTAG IR 完整性扫描测试失败。
---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----
此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试:1、跳过:0、失败:0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7:扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试:2、跳过:0、失败:1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试:3、跳过:0、失败:2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试:4、跳过:0、失败:3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试:5、跳过:0、失败:4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试:6、跳过:0、失败:5
一些值已损坏- 83.3%。
JTAG DR 完整性扫描测试失败。
[结束:德州仪器 XDS100v2 USB 调试探针_0]