[参考译文] TMS320F28023：对于 TMS320F28023的内置闪存 ROM 的数据保持持续时间。

您好！

您在哪里获得了这些保留号码？ F28023数据表显示、Tj = 55'C 时、数据保留时间保证至少为15年。 我看不到您提供的信息。

此致、

曼诺伊

您好、香榭丽舍

我是 TIJ 的 FAE。
关于1)、它是使用我们的 EV 和测试时间以及网络中解释的阿累尼乌斯方程计算得出的。
但我犯了一个错误、因此请忽略此底座中显示的小时数。
将在本地处理它。

2)和3)，您能告诉我们您的观察结果吗？

感谢你的善意帮助。
此致、
Hitoshi

Hitoshi、

我们正在调查您的请求。 请在接下来的几个工作日内收到我们的反馈。

此致、

曼诺伊

55°C 时至少保留15年的数据源自 AEC-Q100任务规范。

对于这一代产品、我们研究 了该闪存在超出 JEDEC / AEC-Q100标准的扩展可靠性条件下的热加速数据保持能力。 Propriatory TI 可靠性模型显示、55°C 时、数据保存的使用寿命要比15年长得多。

本产品的已编程位的数据保存 时间应为2年@ 125C/10年@ 105C、这是我们 在 http://www.ti.com/lit/an/sprabx4/sprabx4.pdf 下表4.2中给出的使用寿命数字   (55C 的使用寿命应大于100年)

热激活时、该数据保持温度应同时适用于通电和断电情况。 假设该应用断电时、它会冷却至更好的环境温度、并且不会保持在105C 以上的高温下。 (例如、汽车 Q100假设寿命为15年、但其中~10%已通电。  其使用寿命长达15年、大部分时间处于断电状态、在断电期间、汽车开始冷却至环境温度)。

最后请注意 TI 关于我们的可靠性建模的免责声明-请参阅 http://www.ti.com/quality/docs/estimator.tsp 。 它们不是您的问题2所要求的保证。 白皮书 http://www.ti.com/lit/an/sprabx4/sprabx4.pdf 讨论了如何评估我们的 C2000器件(设计为在@ 105C Tj 上具有10年的使用寿命)是否适合您预期的终端系统可靠性目标。