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[参考译文] TMS320F2808:如果在擦除周期期间断电、平衡扇区损坏的特性

Guru**** 2611705 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS320F2808

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/682191/tms320f2808-characteristics-of-corruption-of-the-balanced-sector-if-due-to-power-down-during-the-erase-cycle

器件型号:TMS320F2808
主题中讨论的其他器件:MSC1210

尊敬的 David、或者其他平衡部门专家、

在 执行均衡扇区擦除时、如果损坏的扇区受到电源压降的影响、是否可以描述损坏的扇区可能出现的情况?

位是否会损坏为零、或者损坏是否会表现为整个扇区也会被擦除、这可能是由于电源干扰而不是完全断电?

是否只需要在断电时擦除的扇区进行删除恢复?

我尚未阅读有关此主题的任何内容、以说明擦除期间重置是否具有任何类似的结果、因此欢迎您在这方面放心。

谢谢、

Andy

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    Andy、

    损坏可能很小、有几个翻转的位、或者在更大数量的位受到影响的情况下更严重。

    任何和所有处于耗尽状态的部门都需要进行耗竭回收。 如果扇区仍然正常工作、则不需要运行删除恢复。

    如果在对闪存进行编程或擦除时对器件进行重启或复位、则操作可能会部分完成。 如果是这种情况、某些指令可能已损坏、并且无法按预期工作。 如果在密码位置发生这种情况、也可以永久锁定器件。

    此致、
    Cody  

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    您好、Cody、

    我是否正确地认为、如果擦除被发生的复位中断、然后被保持在活动状态、那么耗尽可能会无限期地持续下去。  如果在执行耗尽时断电、耗电是否会在加电后继续?  我们的代码内置有删除恢复功能、但是如果有一个主处理器可以在一段时间内保持 TMS320处于复位状态、则在单元复位或加电之后、 然后 、对于中断 数据传输的单元复位、我认为 谨慎的做法是尽早而不是稍后将 TMS320从复位中释放出来。

    另一个查询。  我在 SPRS230N 中看到、PZA 器件的正常温度范围为-40至+85、但编程温度范围为0至+85、请注意、在这些范围之外、寿命(周期)无法保证。  数据保留可能也会受到影响、但到目前为止、我找不到任何闪存数据保留数字。  您能向正确的方向引导我吗?

    谢谢、

    Andy

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    Andy、

    一旦某些闪存位单元处于耗尽状态、它将保持耗尽状态、直到通过运行耗尽恢复算法恢复闪存位单元为止。 一个扇区中闪存位单元的删除问题确实会影响相应闪存扇区的闪存读取。

    例如:
    在 F2808器件中:
    A 区和 D 区是平衡的部门
    B 区和 C 区是平衡的部门。

    如果在扇区 A 上运行闪存擦除算法、并且该算法被中断(断电、复位等)、则扇区 A 的状态可能是

    1)部分(或)完全清零的 sectora。 器件仍处于良好状态。 扇区 D (平衡扇区)上的闪存读取仍然正常(器件在算法执行开始时中断)
    2) 2)完全擦除的 sectora、所有闪存位单元均为正确状态。 器件仍处于良好状态。 扇区 D (平衡扇区)上的闪存读取仍然正常(器件在算法执行结束时中断)
    3) 3)完全/部分擦除扇区 A、其中一些闪存位单元处于错误状态。 可能的删除问题(器件在算法执行过程中被中断)。 扇区 A 和扇区 D 上的闪存读取不可靠。 运行耗尽恢复算法的时间。

    如果器件在运行耗尽恢复算法时中断、它不会在加电时自动继续运行、因为 RAM 内容会复位。

    我将与您讨论闪存数据保留问题。

    此致、
    曼诺伊
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    您好、Manoj、

    感谢您的快速回复。  我从一位同事那里收集到、他看到了受损的 A 区 、在拆卸时、它看起来像是代码中的一个孔洞。

    我期待阅读有关数据保留的更多信息。

    此致

    Andy

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    Andy、

    我将在本周结束前获取此信息。

    此致、
    曼诺伊
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    Andy、
    很抱歉耽误你的时间、没有中断、我们仍在为你提供此信息。

    此致、
    Cody
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    您好、Cody、

    我 找到 了一些相关 数据;但没有具体处理闪存数据保留、甚至封装寿命也是如此: 从"spra963b 可靠性数据 TMS320F28xx"可以   看到、如果需要20年的产品寿命、则 Tj = 100°C 时的 LQFP 预测寿命似乎值得关注。

    我可以看到、一些 TI 产品确实有闪存数据保持与温度表、例如

    对于 MSC1210 (sbaa091)、85°C 时为46年、100°C 时为27.5年、125°C 时为8.5年

    和 MSP430 (slaa392)、 在85°C 时将近27年、 在105°C 时近10年

    很明显 、产品之间存在很大差异、我仍然很希望能够使用一些 TMS320数据。

    此致、

    Andy

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    Andy、

    对于 F2808、闪存数据在55°C 时的使用寿命为600年

    此致、
    曼诺伊
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    您好、Manoj、

    600年听起来令人鼓舞、但 这是否应被解释为 您引用的 TAmbient 或 Tjunction Flash 数据保留? 正如我在其他 TI 器件的报告中看到的数据表一样、我也可以使用更多数据点。  我 没有找到涵盖 TMS320的 数据、并且由于您没有向我提供专门针对该器件的数据、因此是否有其他产品的数据可以考虑到相同或相似的闪存特性、因为我们通常希望根据发布的数据进行降级?  

    我们的一些产品安装在冷却不良的环境中、 并且可以发现自己安装在  一些位置、在这些位置、由于芯片环境温度接近 TMS320F2808PZA 的85摄氏度上限、因此最好了解该配置文件。  我很谨慎、正如 我在一些报告中看到的、Y 轴上的图形已经超过了一千年、但关键是在几十年的区域中、温度范围的极端点有一些点。

    谢谢、

    Andy

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    Andrew、

    很抱歉,我犯了个错误。 我打算说60岁,而不是600岁。 这是一个排印错误。

    e2e.ti.com/.../TI-C2000-F05-DRL_2D00_public-release.pdf

    此致、

    曼诺伊

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    您好、Manoj、

    感谢您的帮助。  我看到您发送给我的 DRL 数据的链接是用于 TMS320F281x 的、我们在这里有 TMS320F2808。  如果数据同时适用于这两种情况、您可能 会发现  在50°C 环境下可能会达到600年、在85°C 环境下可能会降至大约16年。  

    鉴于 LQFP 封装在105摄氏度的 Tj 下具有较短的寿命、15年以下、 对于在接近 PZA 器件顶部的位置运行的任何人、无论是在封装耐久性还是数据保留方面、都需要仔细考虑使用寿命。

    根据上述数据、我 对您从600到60的修订版本感到好奇、因为这似乎与大约70摄氏度的数据点有关。  无论是从图形数据中、还是由于我们使用2808而不是281x、我都忽略了降额因子吗?

    再次感谢、

    Andy

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    Andy、

    是的、为 F281x 报告的数据适用于 F2808器件。 我确实想报告60份,而不是600份。 这是一个排印错误。

    我只是想引用60年前的说法、因为我只是想保守一点。

    此致、
    曼诺伊
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    Andy、

    我相信我已经回答了你的所有问题。 我可以关闭此主题吗? 希望问题能得到解决。

    请标记回答您问题的帖子。 对于有类似问题的其他人来说、这将非常有帮助。

    此致、
    曼诺伊
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    您好、Manoj、

    是的、我对这个主题不再有任何疑问、我已经标记了三个回答、这三个回答不仅有助于回答 OP、而且有助于 F2808用户的附加数据。

    感谢你的帮助。

    此致
    Andy