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[参考译文] CCS/TMS320F28335：连接到目标时出错、器件可能被锁定

admin
Guru**** 2606725 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS320F28335

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/677566/ccs-tms320f28335-error-connecting-to-the-target-device-may-be-locked

器件型号：TMS320F28335

工具/软件：Code Composer Studio

尊敬的先生，

           我连接了探头，之后我尝试了目标配置，即[probe=TI XDS100v2 USB 调试探头]，并且选择了控制器 TMS320F28335。但测试连接失败。无法转储程序。出现消息后将转储程序，如何解决上述问题。

错误消息如下所示：

连接到目标时出错：
(错误-1015 @ 0x0)
设备未响应请求。 器件可能已锁定、或者调试探针连接可能不可靠。 如果可能、解锁器件(例如、在复位模式下使用等待、并对电路板进行下电上电)。 如果错误仍然存在、请确认配置和/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如、较低的 TCLK)。
(仿真包7.0.100.1)

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    TI__Guru**** 2606725 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好、Mahesh、

    哪一个是目标板？ LaunchPad/controlCARD 或您的定制板？

    此致、
    Sudharsanan
  • 0
    TI__Guru**** 2606725 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    我是否执行 JTAG 完整性测试？ 它在 CCS -> Target Configuration -> Test Connection 中可用

    随后将出现以下窗口：

    [开始：德州仪器 XDS100v2 USB Debug Probe_0]

    执行以下命令：

    %CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

    [结果]


    ---- [打印电路板配置路径名]---------------

    C：\Users\susings\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\
    TI\0\BrdDat\testBoard.dat

    ---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------

    此实用程序已选择100或510类产品。
    此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
    库构建日期为"DEC 11 2017"。
    库构建时间为'12：04：14'。
    库软件包版本为'7.0.100.1'。
    库组件版本为'35.0.0'。
    控制器不使用可编程 FPGA。
    控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
    控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
    此实用程序将尝试重置控制器。
    此实用程序已成功重置控制器。

    ---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------

    扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
    控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
    从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
    该软件配置为 FTDI FT2232功能。
    控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
    控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
    控制器无法控制输出引脚上的时序。
    控制器无法控制输入引脚上的时序。
    扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

    ---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---

    没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。

    ---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

    没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

    ---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----

    此路径长度测试使用64个32位字的块。

    JTAG IR 指令路径长度测试失败。
    JTAG IR 指令扫描路径卡在一个位置。

    JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
    JTAG DR 旁路扫描路径卡在一个位置。

    ---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

    此测试将使用64个32位字的块。
    该测试将仅应用一次。

    使用0xFFFFFFFF 进行测试。
    扫描测试：1、跳过：0、失败：0
    使用0x00000000执行测试。
    测试2字0：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字1：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字2：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字3：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字4：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字5：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字6：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字7：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    已提供前8个错误的详细信息。
    该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
    扫描测试：2、跳过：0、失败：1
    使用0xFE03E0E2执行测试。
    扫描测试：3、跳过：0、失败：2
    使用0x01FC1F1D 进行测试。
    扫描测试：4、跳过：0、失败：3
    使用0x5533CCAA 进行测试。
    扫描测试：5、跳过：0、失败：4
    使用0xAACC3355进行测试。
    扫描测试：6、跳过：0、失败：5
    一些值已损坏- 83.3%。

    JTAG IR 完整性扫描测试失败。

    ---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

    此测试将使用64个32位字的块。
    该测试将仅应用一次。

    使用0xFFFFFFFF 进行测试。
    扫描测试：1、跳过：0、失败：0
    使用0x00000000执行测试。
    测试2字0：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字1：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字2：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字3：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字4：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字5：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字6：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字7：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
    已提供前8个错误的详细信息。
    该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
    扫描测试：2、跳过：0、失败：1
    使用0xFE03E0E2执行测试。
    扫描测试：3、跳过：0、失败：2
    使用0x01FC1F1D 进行测试。
    扫描测试：4、跳过：0、失败：3
    使用0x5533CCAA 进行测试。
    扫描测试：5、跳过：0、失败：4
    使用0xAACC3355进行测试。
    扫描测试：6、跳过：0、失败：5
    一些值已损坏- 83.3%。

    JTAG DR 完整性扫描测试失败。

    [结束：德州仪器 XDS100v2 USB 调试探针_0]
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    TI__Guru**** 2606725 points
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    尊敬的先生，
    它是定制板。
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    您好、Mahesh、

    感谢您的响应以及 JTAG 完整性测试日志。 您是否有多个批次电路板(如果有)、您是否在所有电路板或单个电路板上看到过此行为？

    此致、
    Sudharsanan

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    TI__Guru**** 2606725 points
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    尊敬的先生，
    我已经完成了 JTAG 完整性测试日志。我已经检查了另一个电路板，因为该电路板可以正常工作，目标连接成功，但对于一个电路板，我发生了上述问题。对于上述问题，什么是完美的解决方案，即如何解锁器件。
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    Mahesh、

    由于这是定制电路板、您的基本完整性检查失败、我建议检查电路板上的 JTAG 信号完整性。 电路板上的 TDI/TDO 信号似乎有问题、但检查所有 JTAG 信号。

    此致、

    Vivek Singh

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    Mahesh、

    要添加到 Vivek 的陈述中、请确保  遵循 www.ti.com/.../specifications

    最棒的
    Matthew

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    您好、先生、

       我检查了 JTAG 的所有连接、但我的问题仍然没有解决

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    Mahesh、

    从该线程中、您似乎确认了 JTAG 测试在一个 PCB 上工作、但在另一个 PCB 上不工作。  即使器件已锁定、我认为完整性测试仍应通过。  我会确认您在 JTAG 引脚上具有引脚连续性、或者与士兵联系以查看这是否是问题所在。  此外、如果您有示波器、则可以探测 TRSTn、以确保在连接时将其驱动为"高电平"

    请告知我们上述假设是否正确。

    最棒的
    Matthew

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    尊敬的先生：

           我做了试接触，也看到了连接，试接触完成，连续性也不错，但出现了上述问题。  

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    TI__Guru**** 2606725 points
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    Mahesh、
    感谢您的参与、为了确保我们保持一致、您可以确认以下内容：
    1)具有2个相同的 F28335 PCB
    2)一个将连接到 JTAG、另一个将不连接
    3) 2块 PCB 之间的唯一区别是 F28335 MCU 本身

    如果上述3项均正确、则我们可能会处理损坏的器件。 这种情况可能会发生、尤其是在 PCB 处理频繁且可能暴露于 ESD 事件的情况下。

    是否可以更换可疑 PCB 上的 F28335 MCU？

    基于所有内容、我认为我们不再处理"JTAG"问题。

    最棒的
    Matthew
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    TI__Guru**** 2606725 points
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    Mahesh、
    由于一个电路板可以工作、另一个电路板不工作、我认为没有原理图问题、而是故障电路板上的元件损坏了。 这两个电路板之间是否还有其他差异？

    Matt