[参考译文] CCS/TMS320F28335：连接到目标时出错、器件可能被锁定

您好、Mahesh、

哪一个是目标板？ LaunchPad/controlCARD 或您的定制板？

此致、
Sudharsanan

我是否执行 JTAG 完整性测试？ 它在 CCS -> Target Configuration -> Test Connection 中可用

随后将出现以下窗口：

[开始：德州仪器 XDS100v2 USB Debug Probe_0]

执行以下命令：

%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity

[结果]


---- [打印电路板配置路径名]---------------

C：\Users\susings\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\
TI\0\BrdDat\testBoard.dat

---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------

此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
库构建日期为"DEC 11 2017"。
库构建时间为'12：04：14'。
库软件包版本为'7.0.100.1'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------

扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---

没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。

---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----

此路径长度测试使用64个32位字的块。

JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径卡在一个位置。

JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径卡在一个位置。

---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG IR 完整性扫描测试失败。

---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
一些值已损坏- 83.3%。

JTAG DR 完整性扫描测试失败。

[结束：德州仪器 XDS100v2 USB 调试探针_0]

尊敬的先生，
它是定制板。

尊敬的先生，
我已经完成了 JTAG 完整性测试日志。我已经检查了另一个电路板，因为该电路板可以正常工作，目标连接成功，但对于一个电路板，我发生了上述问题。对于上述问题，什么是完美的解决方案，即如何解锁器件。

Mahesh、

由于这是定制电路板、您的基本完整性检查失败、我建议检查电路板上的 JTAG 信号完整性。 电路板上的 TDI/TDO 信号似乎有问题、但检查所有 JTAG 信号。

此致、

Vivek Singh

Mahesh、

要添加到 Vivek 的陈述中、请确保  遵循 www.ti.com/.../specifications

最棒的
Matthew

您好、先生、

   我检查了 JTAG 的所有连接、但我的问题仍然没有解决

尊敬的先生：

       我做了试接触，也看到了连接，试接触完成，连续性也不错，但出现了上述问题。  

Mahesh、
感谢您的参与、为了确保我们保持一致、您可以确认以下内容：
1)具有2个相同的 F28335 PCB
2)一个将连接到 JTAG、另一个将不连接
3) 2块 PCB 之间的唯一区别是 F28335 MCU 本身

如果上述3项均正确、则我们可能会处理损坏的器件。 这种情况可能会发生、尤其是在 PCB 处理频繁且可能暴露于 ESD 事件的情况下。

是否可以更换可疑 PCB 上的 F28335 MCU？

基于所有内容、我认为我们不再处理"JTAG"问题。

最棒的
Matthew