主题中讨论的其他器件: C2000WARE
我们有一款使用 TMS320F28375S 的产品、并且希望了解易受此问题影响的器件在尝试5次后锁定的可能性或概率。 参考文章中提到 、在最多5次重试后、该变通办法"具有极高的成功率"。 我们正在使用 C2000ware 中的最新解决方法版本。
此成功率是否可以用百分比来表示、例如一般群体中的设备会在5次尝试后锁定99.9%的变化? 如果没有、则可以共享有关此主题的任何数据、这将非常有助于我们了解器件在~25 次重试后无法退出重试循环的概率。
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我们有一款使用 TMS320F28375S 的产品、并且希望了解易受此问题影响的器件在尝试5次后锁定的可能性或概率。 参考文章中提到 、在最多5次重试后、该变通办法"具有极高的成功率"。 我们正在使用 C2000ware 中的最新解决方法版本。
此成功率是否可以用百分比来表示、例如一般群体中的设备会在5次尝试后锁定99.9%的变化? 如果没有、则可以共享有关此主题的任何数据、这将非常有助于我们了解器件在~25 次重试后无法退出重试循环的概率。
约旦
我指的是讨论这一问题的3个帖子。 Bottomline:发生率是如此之低,很难量化。
"该变通办法是有效的、实施该变通办法时、系统中没有任何故障报告。 在没有实施权变措施的应用中、报告的现场故障数量非常少、并且很难用如此少的发生次数来量化发生率"。
"至于 PLL 锁定勘误表、如果未实施 PLL 勘误表权变措施、这种情况只会在芯片数量非常少的情况下发生。 如果 使用 PLL 勘误表权变措施(锁定多次+使用 DCC 检查 SYSCLK 频率)、则不锁定的单元数将进一步减少( PPM 非常低)"。
"发生率非常低、因此无法进行量化。"
Hey Hareesh:
在您参考的第二篇文章中、您将讨论具有不同 PLL 设计的 F28002x 和 F28004x。 基于此、我无法确定"非常低 PPM"的提及是否适用于 F2837x 芯片。 我将此作为我的回答并将其与外设参考指南联系起来、但 C2000外设参考指南(spru566q)未将 PLL 作为外设列出。
是否还有什么可以提供的具体东西?
谢谢。
-约旦
约旦
该 F28004x 为 如 www.ti.com/lit/SPRZ439中所述。 此问题已在 F28002x 器件中得到修复。 F2802x 器件使用完全不同的 PLL 设计、不受此问题的影响。
基于此、我无法确定提到的"非常低 PPM"是否适用于 F2837x 芯片。 [/报价]它是适用的。
但《C2000外设参考指南》(spru566q)未将 PLL 列为外设。同意 SPRU566未将 PLL 列为外设。 所有以1.8V 内核电压运行的 C2000 MCU 都使用相同的 PLL。 在1.2V 内核电压下运行的 MCU 使用不同的 PLL。
[/quote]