大家好，
我将使用 TMS320F28379D Launchpad 的 XDS100V2调试器对 TMS320F280025进行编程。我删除了将调试器与 Launchpad 的 MCU 隔离的隔离器。 但出于某种原因、我无法对目标 MCU 进行编程。 为了便于参考、我附上了我的连接的快照。 我已经检查了我的连接、并将 TCLK 频率降至10kHz。 但无法解决这个问题。 它 在所有情况下都显示无法访问器件寄存器。
尊敬的 Peter：
我的硬件连接正常。 我尝试了不将 TRSTn 信号路由到目标的情况、但仍然面临同样的问题。 此外、我们不需要将 SCI 信号用于 JTAG 吗？ 下图显示了 JTAG 调试器的引脚排列。 
在目标(TMS320F280025 - 48引脚)中、我将使用相应的信号连接引脚28至31。 下面是我的目标的引脚图。 
尊敬的 Peter：
1) 1) 我阅读 JTAG 调试指南。 也就是说、我们需要5个引脚(TDI、TDO、TCK、TMS、TRSTn)。 但是、既然您说 TMS320F280025不支持 TRSTn 信号、那么现在我的 JTAG 调试器有四个引脚(TDI、TDO、TCK、TMS)。 这是正确的吗？ 
2) 2)我的 PC 能够识别调试器。 我在"Device Manager --> Ports (设备管理器-->端口)"中进行了检查。 这是否意味着我的调试器没有问题？
我附上了图像供您参考。 
3) 3)此外、我还附加了配置文件和错误消息。
配置文件：
下面是错误信息：
[开始：Texas Instruments XDS100v2 USB Debug Probe_0]
执行命令：
%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatfilename%-RV -o -F inform、logfile=yes -S 路径长度-S 完整性
[结果]
-------- [打印主板配置路径名}-->--------------------
C：\Users\Vinod\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\
ccs1250\0\0\BrdDat\testBoard.dat
-------- [打印复位命令软件日志文件]----------
此实用程序已选择100/110/510类产品。
该实用程序将加载适配器"jioserdesusb.dll"。
库构建日期为"STEP 6 2023"。
库构建时间为"09：57：39"。
库软件包版本为"9.13.0.00201"。
库组件版本为'35.35.35.5.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为"4"(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。
-------- [打印重设命令硬件日志文件]----------
通过切换 JTAG TRST 信号可重置扫描路径。
控制器为带 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(无电缆)。
该软件针对 FTDI FT2232功能进行了配置。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监测 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。
-------- [从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]------
没有用于编辑 JTAG TCLK 频率的硬件。
-------- [测量 JTAG TCLKR 最后输入的源和频率]----
没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。
-------- [在 JTAG IR 和 DR 上执行标准路径长度测试}-->----
此路径长度测试使用64个32位字的块。
JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径卡在零。
JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径卡在零。
-------- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试}-->--------
此测试将使用64个32位字的块。
此测试将只应用一次。
使用0xFFFFFFFF 执行测试。
测试1字0：已扫描出0xFFFFFFFF 并已扫描到0x00000000。
测试1字1：已扫描出0xFFFFFFFF 并已扫描到0x00000000。
测试1字2：已扫描出0xFFFFFFFF 并已扫描到0x00000000。
测试1字3：已扫描出0xFFFFFFFF 并已扫描到0x00000000。
测试1字4：已扫描出0xFFFFFFFF 并已扫描到0x00000000。
测试1字5：已扫描出0xFFFFFFFF 并已扫描到0x00000000。
测试1字6：已扫描出0xFFFFFFFF 并已扫描到0x00000000。
测试1字7：已扫描出0xFFFFFFFF 并已扫描到0x00000000。
提供了前8个错误的详细信息。
实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：1、跳过：0、失败：1
使用0x00000000进行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
其中一些值已损坏- 83.3%。
JTAG IR 完整性扫描测试失败。
-------- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试-------------------------------------------------------
此测试将使用64个32位字的块。
此测试将只应用一次。
使用0xFFFFFFFF 执行测试。
测试1字0：已扫描出0xFFFFFFFF 并已扫描到0x00000000。
测试1字1：已扫描出0xFFFFFFFF 并已扫描到0x00000000。
测试1字2：已扫描出0xFFFFFFFF 并已扫描到0x00000000。
测试1字3：已扫描出0xFFFFFFFF 并已扫描到0x00000000。
测试1字4：已扫描出0xFFFFFFFF 并已扫描到0x00000000。
测试1字5：已扫描出0xFFFFFFFF 并已扫描到0x00000000。
测试1字6：已扫描出0xFFFFFFFF 并已扫描到0x00000000。
测试1字7：已扫描出0xFFFFFFFF 并已扫描到0x00000000。
提供了前8个错误的详细信息。
实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：1、跳过：0、失败：1
使用0x00000000进行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
其中一些值已损坏- 83.3%。
JTAG DR 完整性扫描测试失败。
[End：Texas Instruments XDS100v2 USB Debug Probe_0]
尊敬的 Rajaram：
请参阅数据表中有关器件上不存在 TRSTn 的以下注释。
新图像看起来正确。 您需要提供 CCXML 文件本身。
此致、
彼得
