主题中讨论的其他器件： UNIFLASH
您好！
我使用带有 TMS320F28386D 控制器的定制电路板、并且遇到 Device 可能被锁定、或者调试时调试探针连接可能不可靠的问题。
此外、我已执行 JTAG 完整性测试、我将获得以下输出
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[开始：德州仪器 XDS110 USB Debug Probe_0]
执行命令：
%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatfilename%-RV -o -S 完整性
[结果]
-------- [打印主板配置路径名}-->--------------------
C：\Users\Naga~1.CHA\AppData\Local\TEXASI~1\
ccs\ccs1250\0\0\BrdBat\testBoard.dat
-------- [打印复位命令软件日志文件]----------
此实用程序已选择100/110/510类产品。
该实用程序将加载适配器'jioxds110.dll'。
库构建日期为"STEP 6 2023"。
库构建时间为"09：57：39"。
库软件包版本为"9.13.0.00201"。
库组件版本为'35.35.35.5.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为"5"(0x00000005)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。
-------- [打印重设命令硬件日志文件]----------
通过切换 JTAG TRST 信号可重置扫描路径。
控制器是具有 USB 接口的 XDS110。
从控制器到目标的链路是直接的(无电缆)。
该软件针对 XDS110功能进行了配置。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监测 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。
-------- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试}-->--------
此测试将使用64个32位字的块。
此测试将只应用一次。
使用0xFFFFFFFF 执行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000进行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用0xFE03E0E2进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。
JTAG IR 完整性扫描测试已成功。
-------- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试-------------------------------------------------------
此测试将使用64个32位字的块。
此测试将只应用一次。
使用0xFFFFFFFF 执行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000进行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用0xFE03E0E2进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。
JTAG DR 完整性扫描测试已成功。
[结束：Texas Instruments XDS110 USB Debug Probe_0]
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后来我提到的问题可能是由于控制器损坏/控制器锁定,我使用 UniFlash 工具检查了 C28x 控制器解锁,变得像下面的错误。 我是否需要进行任何更改 
请尽早帮助我解决问题
