工具与软件:
我发现 TMS320F28062PNT 的一个反复问题、即当器件存储时、某个 MCU 存储器扇区被擦除。 它的发病率较低、但现在已经发生了几次。 我们已经发现批号为 26AZDXW 和15CS9QW 的 MCU 有这个问题、并想知道这是某些批次的已知问题还是更一般的问题。 工艺问题不太可能出现、因为该产品已使用多年、并且仅在近期才发现此问题、内部也有不同批次出现此问题。
如有任何帮助、将不胜感激。
非常感谢
Liam
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工具与软件:
我发现 TMS320F28062PNT 的一个反复问题、即当器件存储时、某个 MCU 存储器扇区被擦除。 它的发病率较低、但现在已经发生了几次。 我们已经发现批号为 26AZDXW 和15CS9QW 的 MCU 有这个问题、并想知道这是某些批次的已知问题还是更一般的问题。 工艺问题不太可能出现、因为该产品已使用多年、并且仅在近期才发现此问题、内部也有不同批次出现此问题。
如有任何帮助、将不胜感激。
非常感谢
Liam
Liam、
我不知道有任何涉及闪存保留的已知问题。 我们有15年的保留规范(Tj = 55C 时)、但更重要的是、您关于某个扇区正在被擦除的评论不会是我期望的保留问题、即、我希望看到一个位或可能多个位、但采用随机方式、而不是整个扇区。
批号分别对应2022年6月(26xxxx)和2021年5月(15xxxxx)、即使假设在生产后很快就已编程、但期限仍比15年短得多。
是两个器件上的相同扇区吗? 编程器件与再次使用器件之间的间隔时间是多长? 您能评论一下贮存条件、例如温度、湿度等?
此致!
Matthew
您好、Matthew:
感谢您的答复。
我们在器件上对2个扇区进行编程、它两次都是被擦除的相同扇区。 我们最初2次注意到此问题是在高温流程之后发生的、因此我们最初确实将此问题归因于此(尽管我们的所有器件都进行了此热处理、但以前没有问题)。 不过、在调查此问题时、我们看到一个器件发生了这种情况、该器件经过编程后保留在正常的室温贮存约2-3周、然后再次进行测试并发现该问题。
非常感谢
Liam
Liam、
我请求您将器件退还给 TI 以进行故障分析。
退货流程记录在 https://www.ti.com/support-quality/additional-information/customer-returns.html?keyMatch=returns 中、 具体取决于您是从 TI.com 还是从分销商处购买器件。
您可以参考此 E2E 主题了解您可能从提交中收到的任何授权申请/要求。
如果您有任何问题、敬请告知。
此致!
Matthew
Liam、
仅仅通过 JTAG 调试器直观地查看一个扇区是不够的。 请在运送可疑设备之前执行以下操作:
为了进行全面的分析、如果您可以向我们发送正确的闪存映像、将会有所帮助。 你可以把它作为一个私人信息发送给我或马修。 您需要发起一个友谊请求才能这样做。