[参考译文] LAUNCHXL-F28379D：德州仪器(TI) XDSxx USB 调试 Probe_0错误

Ben、

我现在有这个问题,如果你愿意帮助。  

https://imgur.com/gallery/ccs-issue-orNlMwz

请注意、回复时的插入图像按钮出现问题。 已上传到 imgur。  

基本上、现在的错误为：

连接到目标时出错：

(错误-2131 @ 0x0)

无法访问器件寄存器。 重置设备、然后重试此操作。 如果错误仍然存在、请确认配置、对电路板进行下电上电、并/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如、降低 TCLK)。

(仿真包9.3.0.00032)

我已尝试重启并降低 TCLK。 我的硬件是否会出现故障？   

您好！

[报价 userid="609909" url="~/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1373493/launchxl-f28379d-texas-instrument-xdsxx-usb-debug-probe_0-error/5249089 #5249089"]

无法访问器件寄存器。 重置设备、然后重试此操作。 如果错误仍然存在、请确认配置、对电路板进行下电上电、并/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如、降低 TCLK)。

(仿真包9.3.0.00032)

我已尝试重启并降低 TCLK。 我的硬件是否会出现故障？   

[报价]

在您的目标配置中、您可以使用"Test Connection"按钮吗？ 从该错误日志中、我假设它将通过。

接下来、您能否参考 Launchpad 用户指南并尝试将器件置于等待引导模式？  

然后、您能否按照说明手动启动目标配置并连接到器件？  https://software-dl.ti.com/ccs/esd/documents/users_guide/ccs_debug-main.html#manual-launch

此致、

Ben Collier

我已运行测试连接、输出如下：  

[开始：德州仪器(TI) XDS100v2 USB 调试 Probe_0]

执行命令：

%CCS_BASE%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatfile>-rv -o -F inform、logfile=yes -S 路径长度-S 完整性

[结果]

--- [打印主板配置路径名]--------------------------------------------------------

~/.ti/ccs1020/0/0/BrdDat
testBoard.dat

--- [打印重置命令软件日志文件]--------------------------------------------------------

此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器"libjioserdesusb.dylib"。
库构建日期为"2021年1月1日"。
库编译时间为"13：05：24"。
库软件包版本为"9.3.0.00032"。
库组件版本为"35.35.35.5.0.0"。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为"4"(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

--- [打印重置命令硬件日志文件]--------------------------------------------------------

将通过切换 JTAG TRST 信号来复位扫描路径。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不使用电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监测 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监测 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

--- [从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]----

没有用于编辑 JTAG TCLK 频率的硬件。

--- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----

没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。

--- [在 JTAG IR 和 DR 上执行标准路径长度测试]-------

此路径长度测试使用由64个32位字组成的块。

JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径固定在一。

JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径固定为1。

--- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试]-------------------------------------------------------

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将只应用一次。

使用0xFFFFFFFF 执行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000进行测试。
测试2字0：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字2：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字3：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字4：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字5：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字6：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字7：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
提供了前8个错误的详细信息。
实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 执行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
某些值被损坏- 83.3%。

JTAG IR 完整性扫描测试失败。

--- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]---------------

此测试将使用64个32位字的块。
该测试将只应用一次。

使用0xFFFFFFFF 执行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000进行测试。
测试2字0：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字2：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字3：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字4：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字5：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字6：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
测试2字7：已扫描出0x00000000并已扫描出0xFFFFFFFF。
提供了前8个错误的详细信息。
实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 执行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
某些值被损坏- 83.3%。

JTAG DR 完整性扫描测试失败。

[结束：德州仪器(TI) XDS100v2 USB 调试 Probe_0]

您好！

在 LaunchPad 用户指南中：  

您能否确保这些开关配置正确、以便器件处于等待引导模式、并且 TRST 已正确连接？  

此致、

Ben Collier