[参考译文] TLV2556：LSB 输出代码中的非线性或错误

你好，Tom。  我更改了代码以连续采样 CH0，问题仍然存在。  请参阅下面的图解，显示3072和3084之间的 ADC 计数值跳转，即使我正在这些输入值之间斜坡上精确电压源(忽略轴单位)，但在之间的值处没有转换。  

请参阅下面的缓冲器示意图，其中显示了驱动变频器 AIN0的 AD590温度传感器电路。

柯蒂斯，

感谢您提供更多详细信息！  您的放大器只有~400k 的带宽，并驱动到 TLV2556内部的~1.8nF 电容。  您能否在 ADC 的 AIN0输入处从 O-示波器右侧抓取屏幕截图？  您可能会遇到一些导致转换问题的较大的过度/不足问题。

I/O 时钟的速度如何？  如果没有/CS 和 I/O 时钟，我真的无法详细描述您的3072与3084结果，因此如果您可以包括这些信号并发送另一个捕获，那将非常好。  

Tom，上面显示的图解没有显示 SPI 接口信号，它是以10Hz 速率采样的12位转换数据输出的图解。  SPI SCLK 为6MHz。

仍然需要通过 Curtis 查看 SPI 线路上的实际信号。  逻辑分析器首选的 O 范围。

TLV2556芯片的探针点不好。  将2个示波器探头固定在 IC 引脚上，接地连接较长，因此这不是一个理想的设置，但足以捕获 SPI 信号。  设置循环采样并在 时钟上升边缘触发以捕获事务。

多个事务数据输出(黄色)，时钟(绿色)

单个事务数据输出(黄色)，时钟(绿色)

多事务 CS (黄色)，时钟(绿色)

单次事务 CS (黄色)，时钟(绿色)

感谢柯蒂斯的示波器拍摄，

很难分辨，但第一个多序列似乎是全刻度输入，即0xC0C，然后可能是0x001或0x002。  第二个明显是您之前提到的0xC0C (7084)。  您的输入是否保持恒定，仍然仅采样 CH0？  您是否能够直接在模拟输入上捕获输入(在缓冲区之后)？  您可以在/CS 线路上触发时执行此操作。

在第一个屏幕截图中，两次转换之间的距离似乎为~15US，而最后一次使用 CS 时，这一距离看起来略超过3US。  您是否在不断改变总体采样率？  最初您说您正在以10Hz 的频率进行采样。

让我澄清一下目前的抽样情况。  我每秒对所有 ADC 信道采样一次，在各个信道转换之间循环所有信道(0到 DH)，大约为~15US。  我只是抓住了其中一个交易在图解中显示，因为我也在抽样测试输入，我会看到一个完整的比例输出(DH)。  在此测试期间，输入 CH0保持恒定，我需要设置一个活动探头，以获得运算放大器输出范围内值得查看的结果。  如果输入保持不变，您有什么顾虑？

柯蒂斯-  

如果您保持相对恒定的内容，则调试内容会更容易，示例包括采样率和 Vin。  TLV2556在转换最后一个输入时对新输入进行采样。  如果以10Hz 的频率进行采样，则可能会因采样和保持电容器泄漏而导致转换结果出现故障。  如果您连续使用相同的输入电压采样相同的通道，则可以看到样本到样本的变化，这些变化可能被视为非线性或 LSB 错误。  如果您减慢时钟速度，您实际上会增加采样时间， 这对您使用的400kHz BW 驱动器可能会有所帮助。  在驱动程序和 AINx 之间建立 RC 也是解决 LSB 问题的潜在解决方案。

我不会关注您的泄漏评论，因为数据表将转换过程描述为由内部振荡器控制，并直接在样品台后启动。  如果我在两次转换之间等待10分钟，这一点无关紧要。  在 SPI 事务的最后一个时钟之后，它将从样本切换到转换，转换完成后，结果将锁定为在下一个 SPI 事务上读取。  请详细说明由于泄漏而导致转换错误的风险。

柯蒂斯，

很抱歉-我当时在想换一台设备。  您认为正确，TLV2556的内部转换时钟应放宽采样率。  当您有机会查看模拟输入采样实例时，请告诉我。