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[参考译文] AFE4300:AFE4300

Guru**** 2017950 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/583296/afe4300-afe4300

部件号:AFE4300

鹿

   当客户使用AFE430EVM进行调试和自己的设计时,他们发现某些寄存器写入了一个值,然后读取了该值,该值发生了变化。例如下面的示例。请帮助说明原因。谢谢


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    您好,Aggil:

    客户是否也在AFE4300EVM中看到此行为? 或者他们是否仅在其自定义主板上注意到此SPI问题?

    根据客户正在写入的数据,似乎最不重要的位要么被错误写入,要么被读取。
    请检查其主板上的SPI时序接口。
    设备将SDIN上的数据锁定在SCLK的下降边缘。 数据在SCLK上升沿的SDOUT引脚上移出。
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    您好,Praveen

      EVM和 自定义板上的所有组件都相同。

      另一个, 客户发现新问题,请帮助检查。

    当读取 14个通道的值IQ时,它发现IQ的价值发生在Saltus步骤上。 此后,IQ又有了另一条规则。 此示例如下所示:

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    您好,Aggil:

    请您重新发布图片并附上英文评论吗?
    另请详细说明这一问题。

    此致,
    Prabin
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    你好 

     当我设置相同模式(相同MCLK,相同频分)时,IQ具有不同的规则。  

     我 的问题是 ,这种现象是否正常? 是什么导致了这 种现象的发生?

    此示例如下所示:

      

    此致

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    您好,魏腾,

    您观察到的现象是正常的。 出现这种情况的原因是控制DAC频率的寄存器设置(即 BCM_DAC_FREQ)和IQ DEMOD的除数(即 IQ_DEMOD_CLK)。 每当更改这两个寄存器时,负责生成DAC频率的块和IQ) DEMOD CLK都会重新初始化。 此外,DAC输出和I-Q DEMOD时钟之间的相位关系也可能发生变化。

    此现象的解决方法是每次更改结果中显示的BCM_DAC_FREQ或IQ_DEMOD_CLK时进行校准,因为每种情况的量级保持相同。

    此致,
    Prabin
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    你好 

     感谢您的耐心等待。

     我还有一个问题, 当我的IQ规则发生变化(MCLK相同,频率分配相同)时,我将进行校准并计算其他通道阻抗,但是

    计算的阻抗 在 不同IQ规则之间有一些差异。 有些IQ规则,差异很大。

     您能否提供校准算法,谢谢。

    此致

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    您好,魏腾,

    您能否分享数据(以及他们的IQ规则),以获得更大的差异?

    此致,
    Prabin
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    你好,Prabin

    此示例如下所示:

    您能否提供校准算法,谢谢。

    此致

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    您好,魏腾,

    以下是简单的校准算法。

    1.  通过两个已知阻抗传递相同的激励电流,并测量在其上形成的电压。
      1. 即Y1 = MX1 + C和  Y2 = MX2 + C,其中X1,X2是两个已知阻抗,Y1,Y2分别是它们之间的电压。 M =激励电流,C =偏移。
    2. 使用步骤1中的值查找电流和偏移。
    3. 测量未知阻抗的电压。
    4. 通过减去电压偏移(步骤3),最后除以电流,计算未知阻抗。

    实施此算法后,您可以共享每个IQ规则的以下值

    1. 校准阻抗值
    2. 校准阻抗电压(I和Q)
    3. 未知阻抗电压 (I和Q)

    此致,

    Prabin

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    你好,Prabin
    1.我不确定我的算法是否正确。 在我的算法模型中:
    a.阻抗模量= a * sqrt (i^2+Q^2)+ b (a和b使用四个已知阻抗计算)
    b.阻抗_相位= atan (Q/I)- c (c使用四个已知阻抗进行计算)
    *数据使用我的算法模型,如上。 我的四个已知阻抗值是(96.35 ,187.54 ,567.62 ,691.62)。

    2.在您的算法中(Y = MX + C),它是否只是关于电阻模量的校准? 阶段呢。
    我们的模量算法似乎是相同的。

    3.请帮助我分析未知阻抗在不同IQ规则中的差异为何更大。 非常感谢。

    此致

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    您好,魏腾,

    基本上,我们有相同的算法,即使在我的情况下,您也可以从校准电阻器中找到相位,然后从未知电阻器的相位中减去相位。  

    要了解您的数据,请告诉我为什么I/Q值会发生如下所示的变化(标记为红色)?

    是否适用于不同的IQ规则,如果是,则共享每个规则的BCM频率(以及IQ Demod频率)。

    您是否还可以使用示波器测量未知电阻器之间的电压? 对于不同的IQ规则,频率将改变,但挥杆应相同。

    此致,

    Prabin

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    您好,Prabin
    µArms规范,激励电流为375 μ A,并存在20 % 错误。 校准工作是否有电流来修复20 % 错误? 如果仅用于修复20 % 错误。 我们只能在第一次执行校准过程吗? 稍后的"不要再次校准?"
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    您好,Lin,

    由于相同的激励电流流经校准电阻器和主体,因此了解电流的绝对量级并不重要。 执行校准时,您将删除R1中20 % 变异可能产生的所有变量,以及由于寄生虫引起的变异等。由于这些变量随工作条件的变化而变化,因此建议每次工作条件发生变化时进行校准。

    此致,
    Prabin
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    谢谢!