[参考译文] DDC114：DDC114非连续模式

尊敬的 Baek：

欢迎来到 E2E 论坛！！！

对于色调小于 CONT 模式 m/r/AZ 周期的 nCONT 模式、在下一个积分周期准备就绪前、CONV 将被忽略。 即使 CONV 正在切换、在此期间也不会进行积分。 有关50%占空比 CONV 信号的 nCONT 模式时序、请参阅第19页的图17。 如果您参考非连续模式时序图、应该在4Hz 的输入测试信号上获得至少3个周期、以满足 T10+T11时序要求。 您能否比较不同 CONV 频率的 DVALID 脉冲以进行验证？

如数据表中所述、使用方波生成 CONV 信号以满足 T11时序时必须小心。

谢谢

-TC

您好、TCT。

感谢您回答我的问题。

尊敬的 Baek：

抱歉、我错误地写入 DRDY 而不是 DVALID 的拼写错误。 我已在原始帖子中更正了它。 如果您有任何疑问、请告诉我。

谢谢

-TC

大家好、TC、

 在使用非 cnt 模式时、如果同时使用 a 和 b、值的变化范围会很大、那么我可以使用 a 或 B 吗？

此外、为什么 a 和 b 的宽度会发生变化？

谢谢、

白

尊敬的 Baek：

A 和 B 的值可能不完全相同、因为 A 和 B 积分器将存在偏移和增益/范围误差。 有关失调电压和增益/范围误差规格、请参阅数据表中的电气特性表。 当同时使用 A 侧和 B 侧数据时、可以在系统中校准这些误差。 这些误差的主要原因是 A 侧和 B 侧集成器上的电容器不匹配。

如果我正确地解释了您的问题、请告诉我。

谢谢

-TC

大家好、TC

当使用相同的 CONV (3500Hz)进行测量时、每次测量时、a 和 b 的宽度会发生变化。
如需更多信息、请参阅随附的文件。

附加的文件是暗度测量。

如果您查看附加的文件、则会测量相同的值、因此您可以测量每个值100。 当测量34次时、总共为100次、测量34次时、100具有相同的宽度 a 和 b、但当测量接下来的100次时、宽度 a 和 b 会发生变化。

我想知道为什么会出现这种现象。

感谢您每次回答问题。

谢谢

-baeke2e.ti.com/.../NON.xlsx

尊敬的 Baek：

感谢您提供测试数据信息。

我查看了 Excel 文件中的数据、并绘制了3个数据集以供参考(请参阅下面的附图)。 对于大多数样本而言、三个数据集的运行似乎彼此对齐。 但是、某些数据点不会改变并保持不变(图中的平坦线数据)。 我不确定是什么导致这些数据集与数据集不同(可能是计时问题？)。

谢谢

-TC

您好、TC

上述现象是否是 ddc114的特征？

在非 cnt 模式下、DDC114自行处理它、但很奇怪这种现象会发生。

一些数据点是 A 或 B。这两个数据点中的一个是常数、而 A 或 B 中的一个是上升和下降。

随附的文件是一个分别将数据除以 A 和 B 的文件。

我想知道这种现象是否是 DDC114的原始特征。

此外、在非 CNT 模式下、被告知不使用 Range0、但如果使用范围0测量它、则一个通道的值会很奇怪。
它是否与此无关？

谢谢。

－Baek

e2e.ti.com/.../0741.NON.xlsx

您好 Beak、

感谢您提供有关 Excel 文件的最新信息。

抱歉、如果我误解了您在原始 Excel 文件中的数据。 为了确保我正确理解您的数据集、左侧的图是 A 侧数据、右侧的图是 B 侧数据；差分数据系列是重复测试。 所有这些数据集都来自 DDC114的单个通道吗？ 我希望 CONT 或 nCONT 模式下的 DDC114数据在偏移和增益校准后与左侧的图类似。

如数据表中所述、当器件以 nCONT 模式运行时、不建议使用范围0。 但是、我不确定问题是否相关。 是否可以断开或浮动 DDC114的输入通道并捕获数据集以供查看？

谢谢

-TC

您好、TC

很抱歉、我的回答很晚、因为这是周末。

您说得对。
我希望它像您一样出现在左侧的图中、但与在 CNT 模式下的左侧类似、在 NCNT 模式下、右侧图中的数据是一起的。

我问是否可以在 NCNT 中断开数据、就像数据在零范围内断开一样。 我要检查几个假设。

我认为它不是偏移和增益校正。
如果它是偏移、则间隙会持续增加、位置会略有变化、但如果您看右侧、则不是。
此外、如果它是增益、A 侧和 B 侧分别工作、这是一个令人奇怪的假设。

症状仅在 NCNT 模式下出现。 在 CNT 模式下、它可以很好地与我们想到的方法和数据配合使用。

我认为可以在测试模式下完成浮点。  测试模式不显示症状。

如果您需要释放除测试模式之外的所有输入、请再次记下它们、我们将对它们进行测试。

感谢您每次都给出了正确的答案。

－Baek

尊敬的 Baek：

感谢您的确认。 在 ncontt 模式下、最好验证所有输入是否悬空并检查数据捕获。  

谢谢

-TC

你(们)好。  

我将共享测试结果。

在测试模式下测量时、A 侧和 B 侧之间存在偏差、但症状不可见。
但是、移除输入级(PD)后、测量数据时会出现相应的症状。 如需更多信息、请参阅随附的文件。

此外、由于通过改变范围进行测量、无论范围如何、都会出现症状。

附加文件的测量范围为5。

谢谢

－Baek

e2e.ti.com/.../NON_5F00_3.5_5F00_RANGE5.xlsx

尊敬的 Baek：

感谢您提供额外的测试数据。 由于 A 侧和 B 侧的失调电压不同、PD 移除+测试模式的测试数据符合预期。 但是、B 侧数据有了很大的改进、仅移除了 PD、因为间隙不像之前的数据集那么大。

是否可以在示波器上查看 COV、DVALID 和 DCLK 信号以了解正常 PD 模式和 PD 移除+测试模式？ 您是否会比较这两种时间？

谢谢

-TC

您好、TC

很抱歉耽误你的回答。

目前、我在数据表中查看了与 reteval：ncntmode 相关的时序。

观察此内容后、我将测量 CONV、DVAILID 和 DCLK。

在之前的测量中、当设置时、CONV 和 DCLK 输出良好、而宽度没有变化、并且由于时序问题、DVAILD 来回移动。

－Baek

尊敬的 Baek：

感谢您的更新。  

谢谢

-TC