我正在尝试调试一个 ADC32RF45器件出现的问题。 我们有一个定制板、上面有两个 ADC32RF45器件、总共为我们提供了四个通道。 我们已经无问题地制造了多个电路板。 在一个特定的电路板上、我发现四个通道中的一个存在问题。
问题描述：
在 DDC 模式下运行时、第二个 ADC 的通道 A 会出现噪声杂散。 我从下面的通道 A 获得了 FFT 频谱的屏幕截图。 此测试的配置为：
990MHz DDC 中心频率
3GHz ADC 采样时钟
抽取率为4、因此输出采样率为750MSPS
990MHz 下的测试音
为了确定问题是否与 ADC 的模拟输入有关、我将通道 B 的 DDC 配置为与上面的通道 A 相同的配置、然后启用 DDC 多路复用器、以便通道 B DDC 在通道 A 数据上运行。 然后、我从通道 B 捕获了数据。下面我有一个来自通道 B 的 FFT 频谱截屏：
可以看出、当我在通道 B 中使用 DDC 来处理来自通道 A 的数据时、不再存在噪声杂散
为了进一步验证这一事实、我将 ADC32RF45配置为旁路模式(旁路 DDC)。 在此模式下、我将从 ADC32RF45捕获原始 ADC 样本。 通道 A 和通道 B 均正常运行、并且不包含第一个屏幕捕获中可见的杂散。 这证实了以下情况：
-问题与通道 A ADC 输入电路无关
-问题与通道 A ADC 交错和偏移校正无关
-问题与通道 A JESD204B 接口无关
从该测试中可以看出、正常 FFT 频谱与噪声 FFT 频谱之间的唯一区别是 ADC32RF45内的通道 A DDC 电路。
不过，我不知道这是怎么可能的。
我做了更多测试来尝试和了解通道 A DDC 引入噪声杂散的原因。
1) 1)我在1000MHz DDC 中心频率下重复上述测试。 以下 FFT 频谱的屏幕截图是通道 A DDC 工作时的情况：
1000MHz DDC 中心频率
3GHz ADC 采样时钟
抽取率为4、因此输出采样率为750MSPS
1000MHz 时的测试音
通过再次启用 DDC 多路复用器、我使用通道 B DDC 处理相同的数据、这是 FFT 频谱的屏幕截图：
您可以再次看到、仅仅通过使用通道 B DDC 电路、噪声杂散就消失了。 还可以看到杂散的位置根据 DDC 中心频率而变化。
2) 2)如果没有输入信号、则不存在噪声杂散。
3) 3)我尝试在所有四个 NCO 都设置为相同频率和不同频率的情况下进行测试。 它对噪声杂散没有影响。
我完全被误认为只有通道 A DDC 电路才会引入噪声杂散。
a) ADC32RF45 ADC 的特定输入电源引脚是否仅为通道 A DDC 电路供电？
b)通道 B NCO 按预期运行时、通道 A NCO 时钟是否可能"不稳定"？
c)通道 B DDC 按预期运行时、为什么通道 A DDC 会引入噪声杂散？是否有其他可能的解释？
最后、我不认为这是配置问题、因为我们有多个其他板、其中通道 A DDC 正常运行。
我希望您能提供更多见解！
谢谢你。
你好 Vijay
感谢您的快速响应。
a)我使用 DDC 多路复用器重复此测试、并同时(同时)查看从通道 A 和通道 B 捕获的数据。 我可以确认通道 A 的 DDC 输出具有杂散、通道 B 的 DDC 输出没有具有完全相同输入数据的杂散。
b)我从非常低的输入电平开始、并增加、直到我能够看到杂散。 这大约为-30dBFS。 下面是屏幕截图：
下面是-20dBFS 输入电平的屏幕截图：
以下是-10dBFS 输入电平的屏幕截图：
下面是-5dBFS 输入电平的屏幕截图：
从这个测试中可以看出、杂散电平随着 输入信号电平的增加而以相当线性的方式增加。
我希望这能提供足够的信息。
谢谢你
Gavin
