Other Parts Discussed in Thread: AFE5832, AFE5832LP
主题中讨论的其他器件:AFE5832、
使用 AFE5832的测试模式时、我使用了切换模式。 为什么 AFE 芯片的输出在一小段时间开始时是正确的、但是一段时间过后、它变得很杂乱?
另外使用 AFE 芯片的全0或全1测试模式时情况是一样的、只是在开始一段时间后、AFE 每个通道的输出都是正确的、数据变化幅度并不全是0或全1、 而是一组数字。 你认为原因是什么? AFE 芯片在写入寄存器并设置为测试模式后是否会出现一段时间的故障? 如果是这种情况、我应该怎么做?

