主题中讨论的其他器件:AFE5832、
使用 AFE5832的测试模式时、我使用了切换模式。 为什么 AFE 芯片的输出在一小段时间开始时是正确的、但是一段时间过后、它变得很杂乱?
另外使用 AFE 芯片的全0或全1测试模式时情况是一样的、只是在开始一段时间后、AFE 每个通道的输出都是正确的、数据变化幅度并不全是0或全1、 而是一组数字。 你认为原因是什么? AFE 芯片在写入寄存器并设置为测试模式后是否会出现一段时间的故障? 如果是这种情况、我应该怎么做?

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使用 AFE5832的测试模式时、我使用了切换模式。 为什么 AFE 芯片的输出在一小段时间开始时是正确的、但是一段时间过后、它变得很杂乱?
另外使用 AFE 芯片的全0或全1测试模式时情况是一样的、只是在开始一段时间后、AFE 每个通道的输出都是正确的、数据变化幅度并不全是0或全1、 而是一组数字。 你认为原因是什么? AFE 芯片在写入寄存器并设置为测试模式后是否会出现一段时间的故障? 如果是这种情况、我应该怎么做?

尊敬的 Sachin:
感谢您的回复!
关于问题1:我没有用于 AFE5832LP 的 EVM、因此没有对其进行测试
问题2:芯片上电后我的订单是根据手册订购的、如下图。
关于问题3:我最初使用的 ADC_CLK 是100MHz、所以我也怀疑频率太高是否会引起问题、我把频率降低到20MHz、结果是相同的现象。
关于问题4:我存储从 AFE 通过串行解串传输到 FIFO 的数据、然后将其上传到主机计算机。
这种现象不是由切换测试模式引起的、而是在每种测试模式下都会出现问题、无论我使用哪种模式、这种现象一开始是正常的、一段时间后数据都是错误的。
您是否需要一些额外操作? 我已经详细阅读了芯片手册、但至今仍未阅读。
期待您的回复!
谢谢!
