[参考译文] TUSB216：TUSB216在运行器件合规性测试时似乎不起作用

尊敬的 Jeff：

对于 TUSB216、我们没有任何问题。 只需放入上一个线程进行跟踪。 (链接)

• 如果您按照测试装置程序进行操作、现在我们可以从内部接近器件。 由于眼图显示没有变化、因此这意味着器件无法正常工作。 请参阅此应用手册。 (TUSB2xx 高速信号质量测试模式- SLLA593)在使源发送 TEST_PACKET 之前、您是否已将测试装置连接到 TUSB216？ 您是如何设置测试的？  请注意、在启动时应将转接驱动器配置为最低设置、以防止信号过驱。
• 您能否确认您是否检查了 数据表中的 TUSB216参考原理图以了解参数放置？
• 我可能需要查看原理图和布局。 如果您希望我这样做、请与您分享。

此致！

Josh

Josh、您好！

 《TUSB2xx 高速信号质量测试模式》- SLLA593中添加了 TUSB21XX 测试模式兼容性表。

看起来 TUSB216不支持器件测试模式。 您是否认为这就是为什么在我们的合规性测试(设备模式)期间眼图未更改的原因？  

目前、我们只是使用 TUSB216 EVM 对其进行测试、因此目前没有任何原理图可分享。  

我们还以相同的方式使用 TUSB213EVM 和 TUSB217AEVM 测试了我们的系统、并且我们能够在调整增益设置时得到可改变的眼图。  

此致、

Jeff  

Josh、您好！

TUSB216I 与 TUSB217A 之间的主要差异是什么？ 我从数据表中看不到功能和性能方面的任何明显差异(TUSB216i 的温度范围更宽)。 但是、我们收到了两者的报价、并且 TUSB216I 的成本明显高于 TUSB216和 TUSB217A。  

此致、

Jeff

尊敬的 Lam：

TUSB216I 与 TUSB217A 的最大区别是电池充电控制模式。 请参阅下表进行比较。  

为了说明背景、您能否提供所需的功能或信息、例如模式、电池充电控制模式等。 此外、您能否确认您正在尝试从 TUSB213更改转接驱动器以通过测试？

此致！

Josh

尊敬的 Lam：

TUSB217A 仅与具有主机和器件模式的 TUSB213兼容。

正如我在上一主题中提到的、TUSB213具有太多增 益、因为您的设置是直流增益=高电平、交流增益= 2。 只是想检查直流增益=中、交流增益= 2的测试是否也无法通过。 如果 在范围上有 DP 和 DN 数据，是否可以共享？  

此致！

Josh

Josh、您好！  

这是 TUSB213在不同增益设置下的眼图测试

请注意、我在几乎所有增益设置中都遇到了兼容性问题(之前提到过)。 但是、在使用 TUSB217进行测试时未出现任何问题。  

此致！

Jeff

尊敬的 Lam：

感谢您分享眼图。 我想知道您是否也在中直流升压条件下进行了测试。 即使通过眼图测试、增益过大也会导致出现兼容性问题。 这就是我问 DP 和 DN 数据的原因。

请注意您可能知道的关于直流升压和交流升压。  直流升压有助于在眼图中保持 VHigh 和 VLow 的电平、这往往会在长迹线和电缆中累积电阻损耗。  交流升压用于信号的边沿/转换位、并用于确保信号转换具有正确的上升/下降时间。

TUSB217仅兼容主机模式、因此 TUSB217A 是主机 模式和设备模式的替代选项。

此致！

Josh

 I2C 模式，当 SDA 和 SCL 都上拉时、TUSB216I 将进入 I2C 模式、然后我们执行以下步骤、Tusb216I 将根据 I2C 设置工作、对吗？

1 μ s 将 CFG_ACTIVE 位、为高电平(进入配置模式)
、增益设置
3、将 CFG_ACTIVE 位设置为低电平(返回正常模式)
4 μ s、复位

非 I2C 模式当 SDA 和 SCL 均未上拉时、Tusb216I 将根据 BOOST 和 RX_SEN 的设置在非 I2C 模式下工作。

这种理解是否正确？ 期待您的回答、谢谢。

Josh、您好！  

对于 I2C 模式、我们是否需要在更改增益和灵敏度设置后切换重置？

我们想知道正确的流程是什么。 仅执行步骤1-3或1-4

1.将 CFG_ACTIVE 位设置为高电平(进入配置模式)
2.更改增益设置
3.将 CFG_ACTIVE 位设置为低电平(恢复到正常模式)
4.触发复位

 谢谢。

Jeff

Josh、您好！  

明白了。 现在我明白了。  

谢谢。

Jeff