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[参考译文] TUSB216:TUSB216在运行器件合规性测试时似乎不起作用

Guru**** 1706760 points
Other Parts Discussed in Thread: TUSB217A, TUSB216, TUSB216I, TUSB213EVM, TUSB213
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1222383/tusb216-tusb216-doesn-t-seem-to-work-when-running-device-compliance-test

器件型号:TUSB216
主题中讨论的其他器件:TUSB213EVM、TUSB217A、 TUSB213、TUSB217

您好!  

我们尝试了使用 TUSB216 (在器件模式下)运行合规性测试、但无论增益设置如何、眼图看起来都完全相同。 我认为 TUSB216在合规性测试期间可能有一些可解释性问题、而 TUSB216i 有一些更新来解决这个特定问题。  

1. 您能否确认 TUSB216是否有针对合规性测试的可解释性问题?

2.我们如何确认是否与我们的问题相同?

此致、

Jeff

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    尊敬的 Jeff:

    对于 TUSB216、我们没有任何问题。 只需放入上一个线程进行跟踪。 (链接)

    • 如果您按照测试装置程序进行操作、现在我们可以从内部接近器件。 由于眼图显示没有变化、因此这意味着器件无法正常工作。 请参阅此应用手册。 (TUSB2xx 高速信号质量测试模式- SLLA593)在使源发送 TEST_PACKET 之前、您是否已将测试装置连接到 TUSB216? 您是如何设置测试的?  请注意、在启动时应将转接驱动器配置为最低设置、以防止信号过驱。
    • 您能否确认您是否检查了 数据表中的 TUSB216参考原理图以了解参数放置?
    • 我可能需要查看原理图和布局。 如果您希望我这样做、请与您分享。

    此致!

    Josh

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    Josh、您好!

     《TUSB2xx 高速信号质量测试模式》- SLLA593中添加了 TUSB21XX 测试模式兼容性表

    看起来 TUSB216不支持器件测试模式。 您是否认为这就是为什么在我们的合规性测试(设备模式)期间眼图未更改的原因?  

    目前、我们只是使用 TUSB216 EVM 对其进行测试、因此目前没有任何原理图可分享。  

    我们还以相同的方式使用 TUSB213EVM 和 TUSB217AEVM 测试了我们的系统、并且我们能够在调整增益设置时得到可改变的眼图。  

    此致、

    Jeff  

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    尊敬的 Jeff:

    我没在设备模式下测试您。 由于您共享了测试模式兼容性表、TUSB216不支持器件模式。

    在主机模式下、系统向下游发送测试数据包、在那里接收和 测量这些数据包。 在器件模式下、主机系统向连接的下游器件发送测试数据包命令。  收到此命令后、该器件会向上游发送测试数据包、从而可以对其 进行测量和分析。

    如果您想要器件模式、则可以考虑 TUSB216I 或 TUSB217A。 根据上一线程和该线程、我建议使用 TUSB216I 进行性能计算。  

    此致!

    Josh

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    Josh、您好!

    TUSB216I 与 TUSB217A 之间的主要差异是什么? 我从数据表中看不到功能和性能方面的任何明显差异(TUSB216i 的温度范围更宽)。 但是、我们收到了两者的报价、并且 TUSB216I 的成本明显高于 TUSB216和 TUSB217A。  

    此致、

    Jeff

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    尊敬的 Lam:

    TUSB216I 与 TUSB217A 的最大区别是电池充电控制模式。 请参阅下表进行比较。  

    为了说明背景、您能否提供所需的功能或信息、例如模式、电池充电控制模式等。 此外、您能否确认您正在尝试从 TUSB213更改转接驱动器以通过测试?

    此致!

    Josh

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    Josh、您好!

    为了实现所需的功能、我们的系统需要转接驱动器在主机和器件模式下工作。 就不需要电池充电控制功能。  

    是的、我们确认了 TUSB213能够为我们的眼图提供足够的增益来通过。 但是、当我们在应用程序级别进行测试时、TUSB213导致的延迟对我们来说是一些兼容性问题(通过 USB 集线器建立连接时、PC 无法检测 USB 器件)。  

    此致!  

    Jeff

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    尊敬的 Lam:

    TUSB217A 仅与具有主机和器件模式的 TUSB213兼容。

    正如我在上一主题中提到的、TUSB213具有太多增 益、因为您的设置是直流增益=高电平、交流增益= 2。 只是想检查直流增益=中、交流增益= 2的测试是否也无法通过。 如果 在范围上有 DP 和 DN 数据,是否可以共享?  

    此致!

    Josh

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    Josh、您好!  

    这是 TUSB213在不同增益设置下的眼图测试

    请注意、我在几乎所有增益设置中都遇到了兼容性问题(之前提到过)。 但是、在使用 TUSB217进行测试时未出现任何问题。  

    此致!

    Jeff

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    尊敬的 Lam:

    感谢您分享眼图。 我想知道您是否也在中直流升压条件下进行了测试。 即使通过眼图测试、增益过大也会导致出现兼容性问题。 这就是我问 DP 和 DN 数据的原因。

    请注意您可能知道的关于直流升压和交流升压。  直流升压有助于在眼图中保持 VHigh 和 VLow 的电平、这往往会在长迹线和电缆中累积电阻损耗。  交流升压用于信号的边沿/转换位、并用于确保信号转换具有正确的上升/下降时间。

    TUSB217仅兼容主机模式、因此 TUSB217A 是主机 模式和设备模式的替代选项。

    此致!

    Josh

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     I2C 模式,当 SDA 和 SCL 都上拉时、TUSB216I 将进入 I2C 模式、然后我们执行以下步骤、Tusb216I 将根据 I2C 设置工作、对吗?

    1 μ s 将 CFG_ACTIVE 位、为高电平(进入配置模式)
    、增益设置
    3、将 CFG_ACTIVE 位设置为低电平(返回正常模式)
    4 μ s、复位

    非 I2C 模式当 SDA 和 SCL 均未上拉时、Tusb216I 将根据 BOOST 和 RX_SEN 的设置在非 I2C 模式下工作。

    这种理解是否正确? 期待您的回答、谢谢。

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    尊敬的 Oliver:

    你是对的。 请注意、 在 I2C 模式下、SDA 和 SCL 引脚应放置上拉电阻器(取决于 I2C 总线电压)。 如果 在上电时同时上拉 SDA 和 SCL、器件将进入 I2C 模式。  在非 I2C 模式下、RX_SEN 引脚的下拉和上拉电阻必须遵循 RRXSEN1和 RRXSEN2电阻器的建议。

    此致!

    Josh

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    Josh、您好!  

    对于 I2C 模式、我们是否需要在更改增益和灵敏度设置后切换重置?

    我们想知道正确的流程是什么。 仅执行步骤1-3或1-4

    1.将 CFG_ACTIVE 位设置为高电平(进入配置模式)
    2.更改增益设置
    3.将 CFG_ACTIVE 位设置为低电平(恢复到正常模式)
    4.触发复位

     谢谢。

    Jeff

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    尊敬的 Jeff:

    感谢您的澄清。 更改 I2C 后无需复位。 请按照1-3个步骤操作。

    当它被复位时、I2C 寄存器将被复位为其默认值。  有关更多信息、请参阅数据表的第7.4.6节或数据表的时序要求部分。 在关于数据表的第7.4.6节中、"建议 在更改值之前设置 CFG_ACTIVE 位。 这将暂停 FSM、并在完成所有更改后重置它。" 这意味着在进行所有更改后清除它。

    此致!

    Josh

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    Josh、您好!  

    明白了。 现在我明白了。  

    谢谢。

    Jeff

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    尊敬的 Jeff:

    没问题。 如果您有任何进一步的问题、敬请告知。 我关闭这个主题。

    此致!

    Josh