[参考译文] TUSB216：TUSB216在运行器件合规性测试时似乎不起作用

尊敬的 Jeff：

对于 TUSB216、我们没有任何问题。 只需放入上一个线程进行跟踪。 (链接)

• 如果您按照测试装置程序进行操作、现在我们可以从内部接近器件。 由于眼图显示没有变化、因此这意味着器件无法正常工作。 请参阅此应用手册。 (TUSB2xx 高速信号质量测试模式- SLLA593)在使源发送 TEST_PACKET 之前、您是否已将测试装置连接到 TUSB216？ 您是如何设置测试的？  请注意、在启动时应将转接驱动器配置为最低设置、以防止信号过驱。
• 您能否确认您是否检查了 数据表中的 TUSB216参考原理图以了解参数放置？
• 我可能需要查看原理图和布局。 如果您希望我这样做、请与您分享。

此致！

Josh

Josh、您好！

 《TUSB2xx 高速信号质量测试模式》- SLLA593中添加了 TUSB21XX 测试模式兼容性表。

看起来 TUSB216不支持器件测试模式。 您是否认为这就是为什么在我们的合规性测试(设备模式)期间眼图未更改的原因？  

目前、我们只是使用 TUSB216 EVM 对其进行测试、因此目前没有任何原理图可分享。  

我们还以相同的方式使用 TUSB213EVM 和 TUSB217AEVM 测试了我们的系统、并且我们能够在调整增益设置时得到可改变的眼图。  

此致、

Jeff  

Josh、您好！

TUSB216I 与 TUSB217A 之间的主要差异是什么？ 我从数据表中看不到功能和性能方面的任何明显差异(TUSB216i 的温度范围更宽)。 但是、我们收到了两者的报价、并且 TUSB216I 的成本明显高于 TUSB216和 TUSB217A。  

此致、

Jeff

尊敬的 Lam：

TUSB216I 与 TUSB217A 的最大区别是电池充电控制模式。 请参阅下表进行比较。  

为了说明背景、您能否提供所需的功能或信息、例如模式、电池充电控制模式等。 此外、您能否确认您正在尝试从 TUSB213更改转接驱动器以通过测试？

此致！

Josh

Josh、您好！

为了实现所需的功能、我们的系统需要转接驱动器在主机和器件模式下工作。 就不需要电池充电控制功能。  

是的、我们确认了 TUSB213能够为我们的眼图提供足够的增益来通过。 但是、当我们在应用程序级别进行测试时、TUSB213导致的延迟对我们来说是一些兼容性问题(通过 USB 集线器建立连接时、PC 无法检测 USB 器件)。  

此致！  

Jeff

Josh、您好！  

这是 TUSB213在不同增益设置下的眼图测试

请注意、我在几乎所有增益设置中都遇到了兼容性问题(之前提到过)。 但是、在使用 TUSB217进行测试时未出现任何问题。  

此致！

Jeff

尊敬的 Lam：

感谢您分享眼图。 我想知道您是否也在中直流升压条件下进行了测试。 即使通过眼图测试、增益过大也会导致出现兼容性问题。 这就是我问 DP 和 DN 数据的原因。

请注意您可能知道的关于直流升压和交流升压。  直流升压有助于在眼图中保持 VHigh 和 VLow 的电平、这往往会在长迹线和电缆中累积电阻损耗。  交流升压用于信号的边沿/转换位、并用于确保信号转换具有正确的上升/下降时间。

TUSB217仅兼容主机模式、因此 TUSB217A 是主机 模式和设备模式的替代选项。

此致！

Josh

 I2C 模式，当 SDA 和 SCL 都上拉时、TUSB216I 将进入 I2C 模式、然后我们执行以下步骤、Tusb216I 将根据 I2C 设置工作、对吗？

1 μ s 将 CFG_ACTIVE 位、为高电平(进入配置模式)
、增益设置
3、将 CFG_ACTIVE 位设置为低电平(返回正常模式)
4 μ s、复位

非 I2C 模式当 SDA 和 SCL 均未上拉时、Tusb216I 将根据 BOOST 和 RX_SEN 的设置在非 I2C 模式下工作。

这种理解是否正确？ 期待您的回答、谢谢。

Josh、您好！  

对于 I2C 模式、我们是否需要在更改增益和灵敏度设置后切换重置？

我们想知道正确的流程是什么。 仅执行步骤1-3或1-4

1.将 CFG_ACTIVE 位设置为高电平(进入配置模式)
2.更改增益设置
3.将 CFG_ACTIVE 位设置为低电平(恢复到正常模式)
4.触发复位

 谢谢。

Jeff

Josh、您好！  

明白了。 现在我明白了。  

谢谢。

Jeff