[参考译文] DP83867CS：10BASE-Te 合规性测试失败

您好！

您能否在发现故障的地方分享合规性测试报告？ 客户电路板原理图是否已由我们的团队审阅？如果不是、您能否要求客户填写随附的原理图检查清单并分享其原理图以供查看？

DP83867_Schematic_Design_Review_Checklist.xlsx

此致、
拉胡尔

您好！

我在下面分享了合规性测试报告。
这是使用 DP83867E SGMII EVM 进行测试的结果。

1.测试结果
(1) reg<0x009F>默认值：10BASE-Te TP_IDL (LOAD2)合规性测试结果。
REG<0x009F>= 0xBBBB。 【结果：失败】

e2e.ti.com/.../10BASE_2D00_Te_5F00_TP_5F00_IDL_5F00_TI_5F00_board_5F00_0x9F_5F00_0xBBBB_5F00_FAIL.pdf

(2)这是通过增大 PAIRA 的差分振幅并写入以下寄存器值来测试10BASE-Te TP_IDL (LOAD2)的结果。
REG<0x009F>= 0xBBBC。 【结果：通过】

e2e.ti.com/.../10BASE_2D00_Te_5F00_TP_5F00_IDL_5F00_TI_5F00_board_5F00_0x9F_5F00_0xBBBC_5F00_WRITE_5F00_PASS.pdf

(3)这是执行10BASE-Te 峰值差分电压测试的结果、方法是针对10BASE-Te TP_IDL (LOAD2)采取对策、增加 PAIRA 差分振幅、并写入以下寄存器值。
REG<0x009F>= 0xBBBC。【结果：失败】

e2e.ti.com/.../10BASE_2D00_Te_5F00_PEAK_5F00_DIFF_5F00_WITHOUT_5F00_TI_5F00_board_5F00_0x9F_5F00_0xBBBC_5F00_WRITE_5F00_FAIL.pdf

2、原理图及电路板设计
下面是我购买的 DP83867E SGMII EVM 的原理图和电路板设计信息。

e2e.ti.com/.../snlu209_5F00_Schematic-and-board-design.pdf

您能告诉我为什么 DP83867E SGMII EVM 无法通过吗？
请回答问题1至3。

请允许我复查这些结果并返回给您。

您是否尝试过 reg<0x009F>= 0xCCCC 值、但它的 TP_IDL 和峰值差值都失败了？

此致、
拉胡尔

您好！

我将在下面回答。

>您是否尝试过 reg<0x009F>= 0xCCCC 值，但它未通过 TP_IDL 和峰值差分？
TP_IDL 成功、峰值微分失败。
我在下面分享了合规性测试报告。

这是通过增加差分振幅并写入下一个寄存器值来测试10BASE-Te TP_IDL (LOAD2)的结果。
REG<0x009F>= 0xCCCC。【结果：通过】

e2e.ti.com/.../10BASE_2D00_Te_5F00_TP_5F00_IDL_5F00_TI_5F00_board_5F00_0x9F_5F00_0xCCCC_5F00_WRITE_5F00_PASS.pdf

这是通过增大差分振幅并写入下一个寄存器值来测试10BASE-Te 峰值差分电压的结果。
REG<0x009F>= 0xCCCC。【结果：失败】

e2e.ti.com/.../10BASE_2D00_Te_5F00_PEAK_5F00_DIFF_5F00_WITHOUT_5F00_TI_5F00_board_5F00_0x9F_5F00_0xCCCC_5F00_WRITE_5F00_FAIL.pdf

感谢您分享这些报告、让我来回顾一下并更新我的反馈。
请给我时间到下周中旬、因为我目前已经被多个 E2E 线程淹没。

此致、
拉胡尔

您好、Rahul
感谢您的确认。
上述确认的状态是什么？

您好！

在上述共享的寄存器配置寄存器0x16中、您要将 PHY 配置为数字环回模式。
寄存器0x16、位[5：2]= 0001

数字环回包括整个数字发送至接收路径。 数据环回到模拟电路之前。

是否可以将 PHY 配置为反向回送并执行测试？
此外、请分享正在使用的寄存器设置。

DP83867合规性测试指南：
https://www.ti.com/lit/ml/snla239b/snla239b.pdf?ts=1680300164201&ref_url=https%253A%252F%252Fwww.google.com%252F

谢谢。
拉胡尔

你好、Rahul

我将其设置为保留上述环回(0x16 0X0020)并共享我看到的结果。
我按照"如何配置 DP838xx 进行以太网合规性测试"(SNLA239B)、连接了一个数据包生成器作为链路伙伴(随机数据包生成)、并按照如下所示连接并验证了测试装置。
我按如下方式连接并确认了测试装置。

DP83867E SGMII EVM 已经过测试、结果出现故障。
我将共享寄存器设置和合规性测试报告。
我共享下面的寄存器设置。

◆下面的寄存器设置
10 Base 标准：
寄存器0x001F = 0x8000 //复位 PHY
寄存器0x0000 = 0x0100 //将 DUT 编程为10Base-T/Te 模式
寄存器0x0010 = 0x5008 //将 DUT 编程为强制 MDI 模式
寄存器0x0016 = 0x0020 //将 DUT 编程到 PHY 环回(保留环回)

我在下面分享了合规性测试报告。

e2e.ti.com/.../10BASE_2D00_Te_5F00_TP_5F00_IDL_5F00_LOAD2_5F00_TI_5F00_board_5F00_LOOPBACK_5F00_FAIL.pdf

DP83867E SGMII EVM 为何无法通过？
请分享您的 DP83867E SGMII EVM 合规性结果。
另外、请回答问题1至3。
我迫切需要确定是否可以使用该器件。
我什么时候可以获得上述问题的答案？

让我来回顾一下您的评论并更新我的反馈。

此致、

拉胡尔

感谢您分享详细信息并使用正确的设置进行测试。

我们没有关于 DP83867 SGMII EVM 的10BASE-Te 合规性报告。

查看测试报告 Shared EVM 与 TPM 的 TP_IDL 失败？ 这是唯一被发现的故障吗？

谢谢。
拉胡尔

你好、Rahul

感谢您的回答。
我将在下面回答。

>查看测试报告 Shared EVM 与 TPM 的 TP_IDL 失败?
>这是唯一发现的失败吗?
我对 DP83867 SGMII EVM 进行了10BASE-Te 合规性测试、仅 TP_IDL_Template with TPM (LCD0/1)(LOAD2)时失败。
其他为通行证。

1.10BASE-Te 测试项目和结果
TPM_IDL_Template with TPM (LCD0)(LOAD1)：通过
使用 TPM (LCD0)(LOAD2)：失败的 TP_IDL 模板
TPM_IDL_Template with TPM (LCD0)(LOAD3)：通过
TPM_IDL_Template with TPM (LCD1)(LOAD1)：通过
使用 TPM (LCD1)(LOAD2)：失败的 TP_IDL 模板
TPM_IDL_Template with TPM (LCD1)(LOAD3)：通过

TPM_IDL_Template 不带 TPM (LCD0)(LOAD1)：通过
TPM_IDL_Template 不带 TPM (LCD0)(LOAD2)：通过
TP_IDL 模板不带 TPM (LCD0)(LOAD3)：通过
TPM_IDL_Template 不带 TPM (LCD1)(LOAD1)：通过
TPM_IDL_Template 不带 TPM (LCD1)(LOAD2)：通过
TP_IDL 模板不带 TPM (LCD1)(LOAD3)：通过

请确认以下内容。

【问题1】
我想看看是否有办法使用 TPM(LCD0/1)(LOAD2)的 TP_IDL_Template 进行改进。
我们认为、在10BASE-Te 测试中、可以通过微调和增加 MDI_A 的差分振幅(VOD)来实现改进。
DP83867是否能够调整 MDI_A 的差分振幅？

【问题2】
我想看看是否有办法使用 TPM(LCD0/1)(LOAD2)的 TP_IDL_Template 进行改进。
您提到您尚未使用 DP83867 SGMII EVM 对10BASE-Te 执行以太网合规性测试。
是否可以在您的环境中使用 DP83867 SGMII EVM 执行10BASE-Te 合规性测试？

【问题3】
我认为带有 TPM (LCD0/1)(LOAD2)的 TP_IDL_Template 将会失败、因为 DP83867本身可能存在问题。
是否有关于组装了 DP83867的其他电路板的合规性测试结果？
具有 TPM (LCD0/1)(LOAD2)的10BASE-Te TP_IDL_Template 测试是否会在其他安装了 DP83867的电路板上导致失败？

此致
加藤

尊敬的 Kato：

感谢您分享结果。

您是否可以尝试将寄存器0x0023编程为值9D1Ch/AD1Ch 并分享您的反馈？

目前、我没有10Base-Te 测试装置来运行此合规性测试并分享我的反馈。

请尝试仅使用上面共享的寄存器(0x0023)并分享您的反馈。

DP83867符合所有合规性测试。

此致、
拉胡尔

你好、Rahul

感谢您的回答。
我将检查以上内容。
在确认以上内容之前、请告知我以下情况。

[问题1]
寄存器0x0023具有什么样的功能？

[问题2]
关于将0x9D1C/AD1C 值写入寄存器0x0023的内容、该寄存器是否仅影响10BASE-Te 信号？
更改该寄存器是否会影响100/1000BASE-1000l 信号？
对于100/1000BASE-T 信号受影响的情况、我想回答一下、因为还有更多要检查的项目。

此致
加藤

尊敬的 Kato：

控制 TP_IDL 形状的数字滤波器使用寄存器0x0023。 这不应影响100/1000BASE-10c 信号。

此致、
拉胡尔

你好、Rahul

感谢您的回答。
我分享了我在下面发现的结果。

我已经编程并验证了寄存器0x0023中的0xAD1C 值。
TPM_IDL_Template with TPM (LCD0/1)(LOAD2)已改进。
10BASE-Te 峰值差分电压也在"1.540V <= value <= 1.960"范围内。
上述措施没有问题。

不过、我很抱歉。
上周,我返回了10BASE-Te 的纹理,因此以上结果是使用10BASE-T 的纹理进行测试的结果
稍后、在10BASE-Te 纹理返回后、将使用10BASE-Te 纹理再次测量以下项目。
另外、在重新测量后、如果有问题、我会再次提问。

1.10BASE-Te 纹理测量项目
(1)使用 TPM 时的链路测试脉冲
(2) TP_IDL 模板及 TPM (LCD0/1)
(3) MAU 模板
(4)使用 TPM 时的抖动

上述措施有一定的改善效果。
我要关闭一次线程、但可以吗？

此致
加藤

当然、Kato、请使用10Base-Te 固定装置进行测试、并分享您的结果。

谢谢。
拉胡尔

你好、Rahul

稍后、我将使用10BASE-Te 纹理共享采集后的结果。

然而,我认为这将需要时间,因为它需要再次租用。

此致
加藤