Other Parts Discussed in Thread: CD74HCT4067-Q1
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器件型号： CD74HCT4067-Q1
您好：
在我们的项目中、我们使用 CD74HCT4067-Q1 作为 16 个 ADC 的开关。 我们发现、在特定的开关时刻、通用 IO 上发生了过冲、从而影响后续的 ADC 检测。 有什么好的解决方案吗？
Other Parts Discussed in Thread: CD74HCT4067-Q1
器件型号： CD74HCT4067-Q1
您好：
在我们的项目中、我们使用 CD74HCT4067-Q1 作为 16 个 ADC 的开关。 我们发现、在特定的开关时刻、通用 IO 上发生了过冲、从而影响后续的 ADC 检测。 有什么好的解决方案吗？
您好 Arya、
对于输入：
迹线为：μ m
我认为我们的布线和输入信号是正常的；问题发生在芯片开关过程中。 是否有任何合理的方法来缓解这种情况？ 另一方面、我尝试在输入端添加一个 1K~100K 串联电阻、以抑制输入信号中的瞬态变化、但它没有帮助。 我是否应该考虑在输出信号（通信 IO）上添加一个串联电阻器？
是的、这个过冲不会永远持续；它仅在特定通道切换期间短暂发生、与下图类似。 我们的通道开关速度为 5ms。 除了向常见 I/O 添加串联电阻外、我们是否还需要注意任何其他方法或要点？
今天、我尝试在公共 I/O 引脚上添加一个 1K 串联电阻、并且过冲似乎要小得多（请参阅第二张图）。 然而、通用 I/O 信号的上升时间明显更慢（这是预期情况）。 因此、我想问是否有其他方法可以解决这种过冲问题？
