您好！
LSF0108用于针对 QSPI 信号双向通信进行1.2V 和3.3V 电平信号转换。 目标速率为50MHz、但当速率增加到50MHz 时、写入的数据和读取的数据之间会出现不一致的问题。 目前、当速率为33.33MHz 时、测得的最大速率只能支持数据、并且读取的数据是一致的。 另请看当速率增加到50MHz 时、导致写入数据和读取数据之间不一致的原因是什么。
1.在实际测量中、我们比较了数据表表表9-3中的上拉电阻值、了解到上拉电阻的速度过大而无法达到50MHz、因此我们确认了上拉电阻为330Ω。 当上拉电阻轻微调整时、例如220Ω、当速度增加到50MHz 时、写入的数据和读取的数据之间也会存在不一致的情况、这已通过我们的实际测量结果进行了验证。
2.测量的链路容量负载低于30pF (约20pF)。 根据数据表中的说明、它应该能够达到100MHz、但现在还没有达到50MHz。
另请帮助分析导致这种情况的原因。 如果您还有遇到类似情况的客户、如何解决这些问题？ 使用 LSF0108的电路板已返回至电路板、并且封装不一致、因此无法直接替换 TXB0801等其他器件进行验证。
期待您的回复、谢谢！
在50MHz、写入的数据和读取的数据之间存在不一致、如下图所示：
50MHz A 侧 CLK 的波形：
50MHz 处 A 侧 DQ0的波形捕获未完成。
50MHz 处 B 侧 DQ0的波形：
目前、A 侧没有上拉电阻、默认驱动、B 侧的上拉电阻已经尝试过增加、尝试了330Ω、470Ω 和1000Ω、但没有改善。 事实上、当上拉电阻为470Ω 时、驱动能力仅与7mA 有关。
您好， Michael，
1、DQ0连接到原理图中的通道5、即 A5/B5。 不完整意味着基本上没有测量到可用的波形。 在50MHz 模式下、CLK 仍可以捕获可用波形、而 DQ0尚未捕获可用波形。
2、我们需要使用现有的 EVB 来验证电路。 现有的 EVB 是使用 LSF0108进行1.8V 和3.3V 的电平转换、所以 A 侧是1.8V、我认为这不会影响验证结论。 在 AB 侧有相应的上拉电阻、比较测试结果是一样的。 后来、从内部移除了 A 侧的上拉电阻、因为芯片侧的 IO 处于 PP 模式。
3、我们今天进行了验证、删除了 B 端外设、测试结果和以前相同、没有改进。
4、进行了实验以验证 AB 侧所有通道的所有外设均已断开、并且 A 侧 CLK 通道(即 A4)已使用同轴线连接到外部信号发生器、 使用信号发生器发射方波、并使用示波器测量 B 侧的相应通道：
A 侧波形：10MHz
B 侧波形：10MHz
B 侧波形：30MHz
从上面的波形可以看出30MHz 处 LSF0108后的波形严重变形。 当然、飞线验证对信号完整性有一定的影响、但如果实际用途与此类似、则无法实现良好的完整性。 请帮助了解 LSF0108是否真的可以到达50MHz、谢谢！
嗨、Dongdong、
对于拼写错误非常抱歉。 我是指所示的30 MHz 波形。
B 侧波形：30MHz
[/报价]
您是否指出这是与视频类似的高达330欧姆的强上拉电阻而无负载的情况？
此致、
迈克尔.
嗨、Dongdong、
感谢确认。 请参阅 下方的30 MHz 和50 MHz、两侧均为330欧姆上拉电阻、如果有任何问题、我们会进一步推荐针对 QSPI 应用的 TXB0106、谢谢。
此致、
迈克尔.
