[参考译文] BQ33100：连接 BQ33100后 BQ 评估软件中的&quot；VB_T2H_NACK&quot

您好！

您的器件应由 EVSW 自动检测。

您是否正在使用 EVM？

您是否下载了 BQ33100的固件包？

此致、

Diego

您好！

您是否正在使用 EVM？  

"是的,我用的是 EV2400

您是否下载了 BQ33100的固件包？

没有

我想使用此 EV2400从 BQ33100读取寄存器、

——

Venkat

您好！

我不使用 BQ33100EVM、而是将 BQ33100 IC 集成到了我们定制设计的载板中。

目前、在 BQEvaluation 软件中检测到 IC、我还可以读取电容、电压等参数、以及寄存器。

但是、我的担心是、即使寄存器中没有错误、IC 也没有打开 PFET 来为电容器充电。

如果我手动开启 PFET、FC 标志状态会改变、但 IC 不会关闭 PFET。

此致

Venkat

您好！

是否发生任何保护事件？ —否

每当我打开 FET 时、FET 控制寄存器(0x46)中的 CHG 位都会变化。

在运行状态一段时间(电容器完全充电后)后、FC 位从0变为1。

您好！

我们将按照以下流程进行操作。 如果我遗漏了任何内容或做有误、请查看并提供建议：

1. IC 总成的引脚。
2. 将评估板连接到定制板。
3. 给电路板加电。
4. 检测评估模块中的 BQ33100。
5. 确保 Safety Status 寄存器和 Operation Status 都显示为全绿色。

测试1 (手动开启 FET)：

1. 手动开启 FET 后、电容器充电到10.5V、但 BQ33100中显示的标称电压仅为9V。
2. Operation Status 寄存器中的 CHG FET 未自动关闭。

测试2 (向制造商访问0x00提供0x0021)：

1. 当新电路板通电且检测到 BQ33100时、我会将0x0021发送至0x00。
2. 发送命令后、运行状态寄存器中的 LTE 和 CFET 状态会发生变化。
3. 电容器的充电电压高达10.5V、但 CFET 仍然不会自动关闭。
4. 有时、CB 和 DSG 位在0和1之间切换。

关于 CFET 自动开启/关闭行为(以确保没有硬件问题)：

我先后发送了0x0021和0x0025 (学习初始化)作为测试。

1. CL 位改变了、CFET 自动关闭。
2. 但是、CFET 会自动再次导通。
3. 更新了电容器和 ESR 值。

如果流程有任何问题、或我需要进行任何调整、请告知我。

您好！

您的流程似乎正确。

是否设置了 FC 位？

是否符合数据表第8.3.3.1节的充电条件。

BQ33100超级电容管理器数据表(修订版 C)

此致、

Diego

您好！

是否设置了 FC 位？    有。

请检查以下图片。