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[参考译文] TPS3430:WDI 间隔短时

Guru**** 2478765 points
Other Parts Discussed in Thread: TPS3430

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1464736/tps3430-when-the-wdi-interval-is-short

器件型号:TPS3430

工具/软件:

您好的团队、

我获得了 EVM、并通过改变 WDI 输入脉冲的频率执行了测试。
当输入50kHz 脉冲时、Trst 延长至620ms。
增加 CWD 电容器的电容会进一步延长 Trst。
当 WDI 输入脉冲之间的间隔较短时、Trst 是否会延长?

请再次在 EVM 上检查。

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    Hirotsugusan,

    WDI 脉冲的脉冲宽度是多少?  

    Jesse  

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    您好 Jesse:

    脉冲占空比为50%、因此脉冲宽度为100us 和20us。

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    嗨、Hirotsugu-San、

    我在 EVM 上以50%的占空比在50kHz 和100kHz 下运行测试。 在100kHz 测试中、我确实看到复位延迟略有变化、但到目前为止50kHz 测试中没有问题。 我仍在运行一些测试、我将在24小时内更新您。

    Jesse  

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    您好 Jesse:

    50kHz 只是一个示例。 随着 WDI 脉冲间隔变短且 CWD 端子的电容增加、这种现象变得更有可能发生。
    这种类型的波形在实际应用中不会出现;我在调试期间观察到了这种情况。
    我想知道脉冲间隔较短时 Trst 为何会延长。
    如果发现原因、我希望将其指定为限制条件。

    此致、

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    是否有基于测试结果的更新?

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    嗨、Hirotsugu、

    在这些条件下测试设备并与同事确认后。 进入 WDI 的重复脉冲输入可防止计时电容器放电并进入正常状态、然后启动新帧、从而使 WDO 停止置位。 理想情况下、在大多数应用中、不会发生这种输入。

    Jesse

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    您好 Jesse:

    我的原质询如下:


    如果 WDI 脉冲是短时间输入的、则计时电容器充电/放电电路将无法正常工作、并且 Trst 将不会保持设置状态。 是这样吗?

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    这些是从 EVM 获取的吗?  

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    否、这些是实际器件的波形。
    我想从 EVM 评估结果中确认、如果 WDI 脉冲间隔过短、可能会出现 Trst 扩展现象。

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    我们的团队将在下周初做出回应。

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    10s 延迟对于此器件来说并不正常、我们之前讨论的重复高频输入阻止 CRST 正常放电的现象可能不适用于所出现的问题。 对于非 EVM 电路板、这是否是可重现的问题?

    Jesse   

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    您好 Jesse:

    这种现象很容易重现。

    您能否在 EVM 中输入一个类似的脉冲并进行检查?

    此外、数据表指出、WDI 输入在 WDO 为低电平时被屏蔽、但是否有任何未被屏蔽的状态?

    此致、

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    嗨、Hirotsugu、

    下面是我测试的一些屏幕截图。 我为您的请求提供了放大屏幕截图和缩小屏幕截图。 我为 CRST 和 CWD 使用了10nF 电容器。  

    放大图:

     

    缩小:

    下面也是连续100kHz WDI 脉冲的屏幕截图。  

    Jesse  

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    您好 Jesse:

    感谢您的验证。
    当 CRST 为10nF 时、预计的 TRST 为32.6ms、但波形显示为79.6ms。
    这是什么原因?
    请在1uF 时使用 CRST 开路和 CWD 进行测试。 然后,你将能够重现这个现象的 TRST 被延长到大约10秒。

    此致、

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    对于 TRST 变化、这是由于我的测试设置的限制造成的。 我必须以更高的频率突发脉冲来置位 WDO。 以下是测试的前3个脉冲。

    我将测试1uF、我将在24小时内给您更新。

    Jesse  

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    嗨、Hirotsugu、

    抱歉耽误了时间、我观察到了1uF CWD 电容器和 CTR 悬空的问题。 我将与我们的设计团队讨论这个问题。 确定问题的根源后、我将更新您。

    Jesse  

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    嗨、Hirotsugu、

    很抱歉耽误你的时间。 将电容器替换为容差较低的电容器并进一步校准我的测试设置后、我不再看到问题。

    根据上述波形、我每2秒间隔发送2个脉冲10us。

    我有1uF CWD 和悬空 CTR。

    Jesse   

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    您好 Jesse:

    从波形来看、WDI 似乎一直处于低电平。

    向 WDI 输入脉冲吗?

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    由于 WDO 和 WDI 的持续时间差、无法在相同的标度上捕获 WDI。

    Jesse

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    请使用 WDI 的下降沿作为触发器来捕获 WDI 和 WDO 波形。

    您说您观察到了问题、但更换电容器后问题就消失了。

    请尝试重新使用原始电容器、看看问题是否再次出现。

    还是电容器是原因? 如果是、请提供可用电容器的规格。

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    有何评论?
    或者调查结束了吗?

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    嗨、Hirotsugu、

    对不起,我们有一个漫长的周末假期,这推动了我的回应。 目前、我正在研究我使用的预发布电容器、该电容器表现出了问题。 使用电容表进行检查后、似乎电容为10uF、而不是器件最大1uF、这阻止了器件正常工作。 我会稍微提供 WDI 示波器屏幕截图。

    Jesse   

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    您好 Jesse:

    为什么1 μ F 或更高的 Ccwd 会影响 Trst?

    我的问题是:

    当下降沿向 WDI 输入一次或在短时间内重复输入时、为什么 TRST 会变得更长? (重复确认为100kHz。)

    根据数据表、当 WDO 为低电平时、WDI 的输入应被忽略、但当 WDI 脉冲周期短时、Trst 会受到影响。

    请详细说明原因。

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    Hirotsugu,

    由于100kHz 早期置为有效(独立于 WDI 输入)中的重复置位、TRST 得以扩展。 当 WDO 置位时、WDI 会被忽略、但在高频下持续提前置位会导致 CRST 电容器在再次置位之前不会完全放电、从而延长延迟时间。  

    Jesse  

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    您好 Jesse:

    CRST 已打开。 为什么这是由 CRST 的充电和放电引起的?

    这是否意味着在 WDO 为低电平时 WDI 输入未被屏蔽的情况下?

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    CRST 仍然有一个内置电容器、可提供最小复位时序配置、而该配置仍需要完全放电才能正常运行。

    Jesse  

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    换句话说、如果高频脉冲输入到 WDI、则可能会影响其运行。

    是这样吗?

    导致此问题的频率是多少?

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    它不一定是高频信号、而是 WDO 重复的早期置位。 从我所见、在1kHz 左右重复切换 WDO 的早期置位时、我开始检测时序变化。  

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    尽管高频信号是非法的、但请合理说明输入高于1kHz 的信号如何影响 IC 的运行。

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    嗨、Hirotsugu、

    1kHz 是非法的。 WDO 持续的早期置位就是问题所在、根据该置位的频率、可以观察到 WDO 脉冲的延长。  

    Jesse   

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    为什么 WDO 会提前置位? 不是因为在 WDO 置位时未忽略 WDI 输入吗?

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    在窗口看门狗的早期故障中尽早置位。 由于 CRST 没有指定完全放电时间、持续触发早期故障可能会导致 WDO 置位时间延长。

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    您好 Jesse:

    让我总结一下。
    生成早期故障事件。 WDO 将输出低电平200ms。
    在早期故障事件发生后立即输入脉冲。 WDO 将保持低电平的时间超过设定值。

    这是否意味着执行此类操作将阻止 CRST 充分放电?
    这是器件规格吗?

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    请给我一些答复。

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    嗨、Hirotsugu、

    WDO 置位时实现的脉冲不应导致问题、因为在 WDO 置位期间会忽略 WDI 脉冲。 由于 CRST 在置为有效之间未正确放电、因此使用早期故障对 WDO 重复置位可能会延长 WDO 置位时间。

    Jesse  

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    我知道、如果在取消置位后立即将 WDO 置位、Trst 将会延长。

    更改问题。 您之前说过这一点

    抱歉耽误了时间、我观察到了1uF CWD 电容器和 CTR 悬空的问题。 我将与我们的设计团队讨论这个问题。 确定问题的根源后、我将更新您。

    您说电容器不合适、之后问题没有再次发生、但设计师团队有何看法?

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    Hirotsugu,

    是的、在寻找1uF 电容器时、我最终使用10uF、而该电容与1uF 混合在一起、 这导致 CWD 超出规格、并导致器件行为奇怪。 一旦我切换到 CWD 上的1uF 电容器、该器件就会正常运行、不会出现问题。

    Jesse  

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    您好 Jesse:

    我使用 EVM 进行了验证。
    当双脉冲发生早期故障时、即使 WDO 变为低电平、CWD 也会继续充电和放电一段时间、Trst 会延长。
    请告诉我为什么这个行为 occurs.e2e.ti.com/.../TPS3430_5F00_Incorrect_5F00_pulse.pdf

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    嗨、Hirotsugu、

    正如我提到的、RST 脉冲的延长更多是由于 RST 有效期间重复置位而不是 WDI 脉冲造成的。 这是基于电容器的计时器件的简称。 您可以在下面的预览响应中看到。 经过几个测试周期后、RST 最终会延长。 这是预料之中的、但由于这不是该器件的实际/典型应用、因此 DS 中不提供此信息。

    Jesse  

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    您好 Jesse:

    通过我的测试、我确认了当 Trst 延长时、CWD 的充电和放电不能正常工作。
    当由于间隔短的脉冲而发生早期故障时、会发生这种情况。
    您能否解释一下 CWD 的充电和放电为何无法正常工作?

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    您好、Jesse、

    当我输入双脉冲时、CWD 放电有时不会停止。
    请告诉我这背后的机制。

    我认为这是由于 WDI 下降信号之间的时间间隔造成的


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    您好的团队、

    在我继续测试时、我开始出现一种现象、即当脉冲间隔短于50us 时、CWD 充电不会停止、并且 Trst 时间会延长。

    考虑到裕度、如果间隔为100us 或更长时间、是否不会发生该问题?

    e2e.ti.com/.../8738.TPS3430_5F00_Incorrect2.pptx

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    您能给我们一些意见吗?

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    Jesse 将很快做出回应。

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    嗨、Hirotsugu、

    对不起延迟,我不得不运行一些实验和双倍的信息与设计. 调查结果与我所传达的信息一致。 由于早期故障始终如一地置位、CWD 和 CRST 电容器没有正确放电的适当时间、从而导致器件表现出您所观察到的行为。

    Jesse  

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    我知道、这不仅影响 CRST、还影响 CWD 的充电/放电操作。 它与我的测试结果相匹配。

    但是、我需要向客户解释为什么会发生这种情况以及如何避免这种情况。

    您有什么材料可以解释这一点吗?

    根据测试结果、如果间隔大于100us 是否可以?

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    该问题不一定是间隔时间、而是故障的重复性置位。 在大多数应用中、当 WDO 置为有效时、它要么连接到 LDO 的使能引脚、要么连接到 GPIO 以使系统复位生效。 在这两种情况下、FAULT 和 WDO 置位仅发生一次、这正是器件的预期作用。  

    遗憾的是、由于超出此器件预期用途、我们没有任何材料说明此现象。  

    Jesse  

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    在实际应用中、系统会在 WDO 置为有效后立即复位、因此我认为不会发生这种现象。

    当测试过程中有意导致早期故障时、便确认了此症状。

    数据表指出、当 WDO 置为有效时、输入会被忽略、因此我不理解这是由重复故障置为有效引起的说明。

    是否因为输入未被忽略而发生了重复断言?

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    您可以做的一个实验是输入一个 WDI 脉冲、使其小于 WD 下限、但大于 WDO RESET 时间。 在前几个周期后通过重复置位、您将看到下面的过渡。 另外、如果使用"忽略"一词、则表示在 WDO 置为有效期间输入的 WDI 不会重新启动新的看门狗帧或导致新的置为有效。 从下面提供的波形可以看出、在某些情况下、额外的脉冲不会导致问题、但如果您运行测试的时间足够长、则问题会在有足够重复的情况下发生。