工具/软件:
您好的团队、
我获得了 EVM、并通过改变 WDI 输入脉冲的频率执行了测试。
当输入50kHz 脉冲时、Trst 延长至620ms。
增加 CWD 电容器的电容会进一步延长 Trst。
当 WDI 输入脉冲之间的间隔较短时、Trst 是否会延长?
请再次在 EVM 上检查。


This thread has been locked.
If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.
您好的团队、
在我继续测试时、我开始出现一种现象、即当脉冲间隔短于50us 时、CWD 充电不会停止、并且 Trst 时间会延长。
考虑到裕度、如果间隔为100us 或更长时间、是否不会发生该问题?
您可以做的一个实验是输入一个 WDI 脉冲、使其小于 WD 下限、但大于 WDO RESET 时间。 在前几个周期后通过重复置位、您将看到下面的过渡。 另外、如果使用"忽略"一词、则表示在 WDO 置为有效期间输入的 WDI 不会重新启动新的看门狗帧或导致新的置为有效。 从下面提供的波形可以看出、在某些情况下、额外的脉冲不会导致问题、但如果您运行测试的时间足够长、则问题会在有足够重复的情况下发生。

