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在《BQ40Z50-R2参考手册》(SLUUBK0B)第24页中、显示了
如果配置为特定故障且 Voltage ()高于最小熔断保险丝电压、或者存在 CHG FET (CFETF)或 DSG FET (DFETF)故障、则 FUSE 引脚被驱动为高电平。
该陈述是否意味着无论 PF 保险丝 C 寄存器中的设置如何、CFETF 或 DFETF 永久失效都会将 FUSE 引脚驱动为高电平? IOW、保险丝熔断取决于启用的 PF C 寄存器、而不是 PF 保险丝 C 寄存器?
或者、这是否意味着 CFETF 或 DFETF (如果在启用的 PF C 和 PF 保险丝 C 寄存器中启用)会将 FUSE 引脚驱动为高电平、而无论 Voltage ()如何? IOW、CFETF 和 DFETF 绕过 Voltage()检查?
要询问另一种方法、参考手册中的这些修改版本中的哪一个是正确的?
1.如果(配置为特定故障且 Voltage ()高于最小熔断保险丝电压)或(存在 CHG FET (CFETF)或 DSG FET (DFETF)故障)、则 FUSE 引脚被驱动为高电平。
2. 如果(针对特定故障配置)并且(Voltage ()高于最小熔断保险丝电压或者存在 CHG FET (CFETF)或 DSG FET (DFETF)故障、则 FUSE 引脚被驱动为高电平。
我认为第二种解释是正确的,但只是想确认。 当我第一次在客户经理中阅读该陈述时、我会以第一种方式解释、这意味着在我准备好熔断保险丝之前、我不应启用/使用 CFETF/DFETF 永久失效。