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[参考译文] BQ25122:低于 BATUVLO 时的 I2C 不稳定运行和 SDA 锁存现象 (BQ25122)

Guru**** 2361320 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ25122, BQ25122EVM
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1523877/bq25122-i2c-unstable-operation-and-sda-latch-phenomenon-below-batuvlo-bq25122

器件型号:BQ25122

工具/软件:

尊敬的 TI 社区:

使用 BQ25122 的电路出现以下问题:

  • 当电池电压 (VBAT) 降至低于 BATUVLO(约为 3.0V)时、仍可以使用模拟发现等分析器观察物理 I2C 波形、但 I2C 解码失败或变得不稳定。
  • 此外、当 VBAT 约为 2.9V 且 IN 引脚上施加 5V 电压时、I2C SDA 线路有时会在高电平或低电平下锁存、并且不会响应。

请提供以下建议:

  • 低于 BATUVLO 时 I2C 通信变得不稳定的原因是、
  • 当 VBAT 为低电平时、施加 5V 电压时、SDA 可能变为锁存为高电平或低电平的机制是什么?

如果您能深入了解这种情况下器件的内部行为、我们将不胜感激。

非常感谢。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    作为附加信息、
    即使电池电压 (VBAT) 降至低于 BATUVLO(约为 3.0V)、如果为充电 IC 施加 5V 电压、仍可以使用模拟发现等分析仪观察到 I2C 物理波形。
    但是、在这些情况下、I2C 解码失败或变得不稳定。

    此外、当 VBAT 约为 2.9V 且 IN 引脚上施加 5V 电压时、I2C SDA 线路有时会在高电平或低电平处锁存并停止响应。
    当电池电压增加约 200mV 时、释放该锁存器。

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    作为额外的信息、I2C SDA 和 SCL 线路上拉不是电池电压、而是上拉至用于与充电 IC 通信的微控制器电源电压。

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    Hiroto:

    您能否在 I2C 通信开始失败时分享其波形? 在此波形中、您能否包含 PMID、SYS 或 LDO 电压(以微控制器电源的供电方式为准)?

    VBAT 超过 BATUVLO 阈值会导致电池放电 FET 被禁用、这会切断 SYS、PMID 和 LDO 电源轨的电源。 这可能会对从这些电源轨获取电源的任何器件产生影响。 我们应该能够更好地使用 I2C +电源轨波形缩小行为范围。

    此致、

    Juan Ospina.

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    感谢您的答复。

    关于您对 SYS、PMID 和 LDO 电源轨的建议:在我们的电路中、I2C 相关元件(例如微控制器和 I2C 的上拉电压)是  不会  连接到这些电源轨、因此我们相信这些线路没有直接影响。

    实际上、即使电池电压下降、微控制器的电源电压也保持稳定、I2C 总线和微控制器的电源不会变得不稳定。 因此、对于即将到来的波形共享、我将仅提供 I2C 信号 (SDA/SCL)。

    如果您希望我监控或分享任何其他信号、请告知我。

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    Hiroto:

    感谢您提供的额外信息、我们可能会在明天对您进行审查和更新。

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    当电池电压 (VBAT) 降至低于 BATUVLO(约为 3.0V)时、仍可以使用模拟发现等分析器观察到物理 I2C 波形、但 I2C 解码失败或变得不稳定。

    从您提供的波形中可以看出、仍然存在 I2C 通信。 需要澄清的是、您的微控制器是否仍然能够从电池充电器的寄存器值中读取? 是仅问题分析器的 I2C 解码、还是 MCU 也无法通信?

    此外、当 VBAT 约为 2.9V 并且在 IN 引脚上施加 5V 电压时、I2C SDA 线路有时会在高电平或低电平被锁存、并且不会响应。

    您能否提供一个波形来说明这种情况? 我想了解 I2C 通信线路在锁存点的外观。

    此致、

    Juan Ospina.

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    您好、

    感谢您的回答和问题。

    关于第一点:
    当使用 I2C 设置为 100kbps 且禁用模拟滤波器的 ST 微控制器时、会发生 I2C 错误、并且当 VBAT 处于 2.3V 至 2.9V 范围内并且在 IN 引脚上施加 5V 电压时、MCU 无法读取寄存器值。 但是、如果 VBAT 从高于 3V 降至大约 2.3V、则可以进行通信。
    此外、由于没有 CRC、即使 MCU 可以读取数据、在模拟发现显示解码不稳定时、我认为数据不可靠。

    此外、当我将 I2C 设置为 400kbps 并启用模拟滤波器时、不再出现 I2C 错误和读数稳定的情况;但即使在这种情况下、模拟发现仍然显示不稳定的解码。

    关于第二点:
    根据您的要求、当以低电池电压(约 2.9V)启动时、SDA 线路似乎会锁存。
    我将提供显示以下内容的波形捕获:

    • 锁存点的特写
    • 施加 5V 电压时的特写
    • 总启动波形

    重新检查后、我发现实际问题不是 SDA 线锁存为高电平或低电平、而是充电器 IC 不会返回 ACK。
    之前、我捕获了一个 SDA 线保持低电平的波形、这促使我将这种现象描述为锁存器。
    如果 3.0V 的上拉电阻导致线路长时间保持低电平、理论上可能会发生锁存情况、但在我最近的测试中、主要问题似乎是充电器 IC 没有确认。

    我还将提交先前 SDA 保持低电平的波形图像。

    如果您需要任何其他信息或特定波形、请告知我。

    此致、
    Hiroto

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    SDA 进入 LATCH 状态(不返回 ACK)时的电池电压会因器件而异。 在其他 IC 中、电压可能会降至 2.9V 或升至 2.95V。
    下图显示了电池电压为 2.9V 且 SDA 锁存为低电平时的图像。 这张图像是过去拍摄的、是唯一可用的图像。

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    Hiroto:

    感谢您的反馈。 为了更清楚地说明:

    当 VBAT 处于 2.3V 至 2.9V 范围且 IN 引脚施加 5V 电压时、发生 I2C 错误、MCU 无法读取寄存器值[/报价]

    仅当施加 5V VIN 且没有 I2C 问题之前才会发生 I2C 错误? 我想尝试重新创建这种行为、您能否分享除默认寄存器值之外在 BQ25122 上配置的任何寄存器值? 我将尝试看看在这种情况下会发生什么。 此外、您能否分享 BQ 原理图、以便确保我的硬件设置与您的硬件相匹配?

    此外、由于没有 CRC、即使 MCU 可以读取数据、在模拟发现显示解码不稳定时、我认为数据不可靠。

    此外、当我将 I2C 设置为 400kbps 并启用模拟滤波器时、不再出现 I2C 错误和读数稳定的情况;但即使在这种情况下、模拟发现仍然显示不稳定的解码。

    [/报价]

    在这种情况下、很难说模拟发现板解码困难表明 BQ 的通信不稳定、因为它似乎与 MCU 进行了通信。 AD 板的 I2C 监听器是否有逻辑电平设置?

    下图显示了电池电压为 2.9V 且 SDA 锁存为低电平时的图像。 此图像是过去拍摄的、是唯一可用的图像。
    [/quote]

    是否有此捕获的放大版本可用于观察各个时钟周期? 此外、SDA 锁存器的持续时间是否有多长时间?

    重新检查后、我发现实际问题不是 SDA 线被锁存为高电平或低电平、而是充电器 IC 不返回 ACK。

    我同意、捕获中似乎没有 ACK。 您现在可以共享 SYS 电压和/CD 电压吗? 器件依赖于 SYS 电压以便能够通过 I2C 进行通信。

    谢谢您、

    Juan Ospina.

    [/quote][/quote]
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    尊敬的 Juan:

    感谢您发送编修。

    关于 I2C 错误:
    仅当 IN 引脚上施加 5V 电压而 VBAT 在 2.3V 至 2.9V 范围内时、才会发生 I2C 错误。 此情况发生前不会出现错误。
    BQ25122 的所有寄存器设置均保持默认值;未进行任何修改。
    我将分别分享 BQ25122 原理图。 请稍候。

    关于模拟发现 I2C 逻辑电平设置:
    我将对此进行调查、并返回给您。

    关于 SDA 锁存器的放大图像和持续时间:
    目前、我没有放大的图像。 如果我可以重现问题、我将捕获并共享显示单个时钟周期和锁存持续时间的波形。

    关于 SYS 电压和/CD 电压:
    我将在 SDA 锁存器的时序(缺少 ACK 时)测量并报告 SYS 和/CD 电压。

    如果您有任何其他要求或需要其他信息、请告知我。

    此致、
    Hiroto

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    Hiroto:

    感谢您添加的上下文。 我将尝试在工作台上重新创建此行为。

    此致、

    Juan Ospina.

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    尊敬的 Juan:

    感谢您发送编修。

    关于第一点:
    在 BatUV 情况下、我知道任何寄存器修改都不能保留、因此每次设置都会恢复为默认值。 因此、我将避免提供寄存器数据。 我随附了一张原理图图像。

    关于第二点:
    AD(模拟发现)硬件和波形软件似乎没有用户可配置的逻辑电平(阈值)设置。 该器件基本上专为 3.3V 逻辑信号而设计。 但是、如随附的波形所示、SYS 电压在大约 1 秒后恢复到 1.2V、我相信 I2C 通信已恢复到正常状态。 因此、当电池电压低于 3.0V 时、我认为 I2C 不会变得不稳定。 也就是说、我注意到模拟发现中解码电压约为 3.0V 的差异、因此仍然存在一些问题。

    关于第三点:
    我无法捕获显示 SDA 线路锁存为低电平的波形、因此没有有关锁存持续时间的特写或信息。 但是、在 ACK 未返回、或 I2C 在启动时无法工作且电池电压介于 2.3V 和 2.9V 之间的情况下、我能够捕获包括 SYS 和 CD 电压在内的波形、因此我将这些波形连接起来。
    在 ACK 未返回的情况下、SYS 电压在 I2C 通信之前从 1.2V 降至约 400mV、我相信这是 I2C 无法正常工作的原因。
    如果 I2C 在电池电压介于 2.3V 和 2.9V 之间的启动时不工作、则 SYS 电压不会像无 ACK 情况那样下降、但会在初始 I2C 通信结束时逐渐降低并恢复到 1.2V。 之后保持了 1.2V、我将其解释为系统返回到 I2C 可以正常运行的状态。

    请注意,我们在内部讨论过这些问题,我们的答复因测量和节假日而推迟。
    此外、我们尚未完全了解 SYS 为何以这种方式运行。

    如果您有任何疑问或需要其他信息、请告知我。

    此致、
    Hiroto





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    Hiroto:

    我认为观察到的行为是 VSYS 上的低电压所致。 SYS 电源轨用于为 BQ25122 的 I2C 引擎内的某些电平转换器供电。 因此、当 VSYS 处于所配置的 VSYS 调节电压的特定电压范围内时、I2C 取决于处于高电平的 SYS 正常信号。  

    当 VIN 置为有效时、VSYS 变为低电平有点奇怪。 我尚未能够重新创建该行为、但我将尝试匹配您提供的波形。 您能否共享一个类似 VSYS 在 VIN 置为有效后变为低电平的波形、但也请在波形中包含 VPMID 和 SW? 我想确认这些节点也按预期运行。

    此致、

    Juan Ospina.

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    尊敬的 Juan:

    感谢您的反馈。

    关于您请求的 PMID 引脚、它当前在我们的电路板设计中设置为 NC(未连接)、因此遗憾的是、无法使用示波器测量其波形。 因此、只能测量 SW 引脚。 如果我附加仅添加 SW 引脚的波形图像、是否可以接受?

    此外、在我们的电路中、除了 PMID 之外、还有其他几个未连接 (NC) 的引脚:PG、PMID、RESET、MR、IPRETERM、 ISET 和 ILIM。 如果这些未连接的引脚中的任何一个与观察到的 SYS 电压下降相关、我们将非常感激您提供的建议。

    感谢您的确认和支持。

    此致、
    Hiroto

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    Hiroto:

    软件应提供一些背景信息。 理想情况下、PMID 电压用于确定电源路径中的哪个点存在电源故障。 SW 也可以提供一些有用的上下文、但如果可以获得 PMID 波形、它仍然可以提供有用的上下文。  

    关于您请求的 PMID 引脚、它当前在我们的电路板设计中设置为 NC(未连接)

    您能否确认在这种情况下、仍有一个电容器连接到该引脚?

    我一直在尝试重现您观察到的行为、但没有成功。 我已经注意到以下情况:

    -当 VIN 被置为有效时,SYS 启动并保持在默认配置的调节电压,而不考虑电池电压。

    - I2C 通信仍然可用。

    此外、在我们的电路中、除了 PMID 之外、还有其他几个引脚保持未连接 (NC):PG、PMID、RESET、MR、IPRETERM、 ISET 和 ILIM。 如果这些未连接的引脚中的任何一个与观察到的 SYS 电压下降相关、请您提供建议。[/报价]

    这些不应该是问题、我认为它唯一可能影响的是将 ILIM 设置为 50mA 的默认寄存器值。 SYS 上是否存在负载、以及预计从该负载拉出多大电流?

    此致、

    Juan Ospina.

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    尊敬的 Juan:

    感谢您的答复。

    正如您所指出的、PMID 引脚在我们的电路板上未布置出来、因此无法测量其波形。 因此、我随附了一个仅添加 SW 引脚的波形图像。

    此外、我想确认、我们正在 SYS 和 LS/LDO 引脚未连接任何负载的情况下进行这些测试。

    此外、PMID 引脚上未连接任何电容器。

    感谢您的确认。

    此致、
    Hiroto





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    作为补充资料、我愿与大家分享以下情况:

    关于电池电压约为 2.9V 时充电 IC 不会在 SDA 线上返回 ACK 的现象、我们已确认 IC 之间存在单独的差异。 在我们的测试中、一些 IC 停止在 2.95V 的电压下返回 ACK、而另一些 IC 停止在 2.93V 的电压下返回 ACK。 因此、我们目前正在以 0.01V 的增量将电压从 2.9V 提高以检查行为。
    在某些情况下、有些 IC 中、即使电压超过 3.0V、SDA 也不会返回 ACK。

    请注意、执行此过程并不能保证 IC 始终停止返回 ACK。

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    Hiroto:

    感谢添加的上下文。

    请注意、执行此过程不能保证 IC 始终停止返回 ACK。

    您能否提供有关您看到此行为的已测试商品总数中的商品数量的信息、以及需要尝试多少次才能重新创建该行为?

    还有另外几件我想丢弃的商品:

    -如果您为 VIN 施加了更高的电压/电流电源,您是否能够重新创建 2.8V, 2.95V VBAT 的行为?

    -您能否在 VSW 上的初始脉冲周围以更放大的时间分辨率提供此波形? 此时、我可以使用它来确定 PMID 上的电压。

    此致、

    Juan Ospina.

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    尊敬的 Juan:

    感谢您的答复。

    我想就您的问题提供一些其他信息:

    • 这种现象发生在我们构建的所有 5 个电路板上(100%出现率)。
    • 如果满足该现象的电压条件、则每次尝试时都会发生第一次。
    • 使用充电 IC 的 IN 引脚的较高电压/电流电源执行测量需要一些时间、但我会在结果可用时立即分享这些结果。
    • 我根据请求附上了 VSW 上初始脉冲周围放大的波形图像。

    感谢您的确认和支持。

    此致、
    Hiroto

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    尊敬的 Juan:

    这是博藤。

    我当前使用 BQ25122EVM 来检查是否可以在您的评估板上重现我们遇到的这种现象。

    在此过程中、我遇到了几个问题、非常感谢您的反馈。

    关于启动时的 SYS 行为:
    当我向 IN 引脚施加 5V 电压时、VPMID 上升到 5V、然后立即降至 1.2V。
    基于此、我相信 SYS 在启动后立即由电池电压供电。 这种理解是否正确?

    关于 I2C 通信后的行为:
    通过 I2C 通信读取寄存器值后、VPMID 恢复到 5V、SYS 电压也恢复到 1.2V。
    由于 I2C 通信、我是否可以将其解读为电源切换到 IN (5V)?

    关于启动时的 SYS 压降:
    如果我离开电路板时没有执行 I2C 通信、SYS 电压会逐渐降低、并在大约 13 秒后降至 0V。
    当电池电压为 BATUV(欠压)而导致 SYS 逐渐降低时、这种预期行为是否会出现?

    关于我的假设:
    根据上述情况、我认为、即使在启动时 SYS 电压约为 1.2V 时执行虚拟 I2C 通信、也可能会将电源切换到 IN (5V)、从而实现稳定的 I2C 通信。
    我尚未测试此方法、但我计划修改固件并尝试使用。
    如果这种做法有效、还有助于避免当电池电压为 2.95V 时 SDA 不返回 ACK 的问题。

    希望您对上述要点作出反馈和确认。

    此致、
    Hiroto

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    Hiroto:

    感谢您确认 EVM 上的此行为。 这对我来说似乎是意外的行为、不幸的是、我没有成功地重新创建它。 能否分享 EVM 设置的一些详细信息、包括:

    - VIN 电压和电流限制。

    - VBAT 电流限制

    - VSYS 或 VPMID 上存在的任何负载电流,以及有多少负载电流被拉在那里。

    VIN 置为有效后 PMID 变为低电平确实意外。 要解决您的一些问题:

    基于此、我相信 SYS 在启动后立即由电池电压供电。 这种理解是否正确?

    SYS 由 VPMID 供电。 在这种情况下、我认为 VPMID 应该由 VIN 供电。 您能否捕获此波形并包含/VIN 引脚、以确保器件将 PG 寄存为有效源?

    我可以将这解释为电源会由于 I2C 通信而切换到 IN (5V) 吗?

    我认为不一定是这样。 I2C 通信不一定会导致切换到 VIN。 首次 I2C 通信时会发生的一件事是从“就绪“模式切换到“主机模式“。 这两种模式之间的主要区别在于 ISET/ ILIM/IPRETERM 依赖外部电阻器与寄存器值。 这些电阻器是在您的 EVM 测试中填充的默认 EVM 电阻器、还是已被更改?

    当电池电压处于 BATUV(欠压)、导致 SYS 逐渐下降时、是否出现这种预期行为?

    如果存在 VIN 为电路板供电、并且不受 VINDPM 或其他安全功能的限制、则不一定会这样。  

    根据上述内容、我认为、如果在启动时 SYS 电压约为 1.2V、即使执行虚拟 I2C 通信、也可能会将电源切换到 IN (5V)、从而实现稳定的 I2C 通信。[/报价]

    根据您的观察、这看起来是一种可行的解决方法。

    我确实从您的波形捕获中注意到、该过程似乎是在 2.95V 下将 BAT 置为有效、然后在大约 2 秒后将 VIN 置为有效。 我预计这不会产生影响、但我将继续尝试在实验室中重新创建行为。 我已经通过耦合电路板上的 VIN 置位/置为无效周期、以 5mV 为步长从 2V 到 3.5V 扫描 VBAT、现在没有任何运气。 如果对 EVM 进行了任何修改或跳线配置、敬请告知。

    此致、

    Juan Ospina.

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    尊敬的 Juan:

    感谢您的答复。 请在下面找到有关我们设置的要求信息:

    • VIN 电压和电流限制:5V、1A 限制(通过电源配置)
    • VBAT 电流限制:20mA 限制(通过电源配置)
    • VSYS 和 VPMID 都仅连接到示波器、否则为空载(无额外负载)。
    • 关于您捕获波形(包括/VIN 引脚 PG) 以)以确认 PG 被识别为有效电源的请求:目前、/VIN 引脚为 NC(未连接)。 您能否告知本次测量应连接到什么设备?
    • EVM 上的 Iset / ILIM / IPRETERM 引脚也是 NC(开路)、通过这种方式进行设置以匹配我们的定制电路板的条件、从而进行直接比较。
    • 对 PG 进行的唯一修改是/ISET、ILIM 和 IPRETERM 引脚保持为 NC。

    如果您需要更多信息或有具体说明、请告诉我。

    此致、
    Hiroto

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    Hiroto:

    EVM 上的 Iset / ILIM / IPRETERM 引脚也是 NC(打开)、通过这种方式进行设置以匹配我们的定制电路板的条件、从而直接比较。

    感谢您提供此背景信息。 鉴于与 I2C 事务的相关、我相信这可能与我们观察到的行为原因有关。 我将修改电路板并尝试按照所述重新创建行为。

    当前、/NC 引脚为 PG(未连接)。 您能否告知此测量应连接到什么?

    BQ25122EVM 上应提供此引脚。 J6 跳线上的引脚可用、因此可通过上拉电阻器 R9 从外部偏置:

    此致、

    Juan Ospina.

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    Hiroto:

    我想我已经确定了问题的原因。 我现在意识到 ILIM、ISET 和 IPRETERM 设置为“无连接“、而不是对地短路。

    这些不应该是问题、我认为它唯一可能影响的是将 ILIM 设置为 50mA 的默认寄存器值。

    在 ILIM 引脚短接至 GND 的情况下也是如此:

    在 ILIM 引脚开路的情况下、我认为输入电流太受限制、无法为 PMID 和 SYS 电源轨充分供电。 当 VBAT 低于 BUVLO 时、这将导致 SYS 处于低电平。 一旦发生 I2C 事务、ILIM 就会更新为默认寄存器设置(默认为 50mA)、这足以让器件在没有 BAT 电源的情况下正确启动上电。

    对于您的电路板设计、您是否可以尝试将 ILIM、ISET、IPRETERM 短接至 GND 以获得更确定的行为? 我还建议填充一个 PMID 电容器、提高器件稳定性。

    此致、

    Juan Ospina.

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Juan:

    感谢您的答复。

    根据您的建议、我在 ILIM、ISET 和 IPRETERM 引脚连接至 GND 的情况下测试了评估板、因此未发生 PMID 和 SYS 上的压降问题。

    有趣的是、即使这些引脚中只有一个(例如 ISET)连接到 GND(其他引脚保持开路)、也不会发生问题。

    由于您上次的答复表明 ILIM 引脚的限制是主要原因、因此我本来预计该问题会持续存在、除非 ILIM 连接到 GND。 但是、似乎仅将其中一个引脚连接到 GND 也可以解决问题。 如果你有任何见解,为什么这可能是,我非常感谢你的建议。

    感谢您的持续支持。

    此致、
    Hiroto

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Hiroto:

    我认为这可能与充电器在 ILIM/ISET/IPRETERM 引脚上检测 GND 短路的方式有关。 ILIM 只是主要理论、因为似乎最有可能导致这种行为、但我可以研究为什么其他引脚可能会产生影响。 最终、建议这些引脚组装有已知值电阻器或短接至 GND 以进行默认寄存器值配置、不建议将其悬空。

    此致、

    Juan Ospina.

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Juan:

    非常感谢您的友好和彻底的支持。
    如您建议的那样、将 ILIM、ISET 和 IPRETERM 引脚连接到 GND 已成功解决该问题。 根据您的建议、我们的设计问题已经完全缓解、我们深表谢意。

    此外、如果您碰巧就其他引脚未来的影响获得任何新的见解、如果您能在此处分享、我们将不胜感激。

    再次感谢您的合作。 我们期待着继续与您合作。

    此致、
    Hiroto