请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号：BQ25756 工具/软件：
你（们）好
我们有一个基于 BQ25756 的电路板、我们正在忙于开发工作以用于我们的产品、但我们遇到了一些问题、并且 BQ25756 IC 会由于不发生充电而导致崩溃/中断/故障。 我不确定确切的原因/原因。 以下是有关 PCB 和故障的一些信息：
运行参数：
- 250kHz 开关频率
- 输入电压范围为 10V 至 70V（初始测试@24V）
- 充电电流 19.5A（初始测试设置为 400mA）（800W 充电功率）
- 14S 锂离子电池（初始测试设置为 8S、8S 电池，并相应地更改了电阻分压器）
- 15uH 电感
当允许 IC 由连接到 REGN 并禁用充电（CE 引脚悬空）的 DRV_SUP 供电时、I2C 通信正常工作。 当将寄存器设置为适当的设置并将 CE 拉至低电平时、芯片会关闭、并且在通过切断电源并重新上电来复位之前不会执行任何其他操作。
在 DRV_SUP 连接到 8V 稳压器的情况下为 IC 供电、适当设置寄存器并将 CE 拉 至低电平时、芯片会在 DRV_SUP 永久短接至 PGND 的情况下裸片。
在断开输入电源的 400mA 限制并断开电池的情况下重复相同的测试时、芯片将启动充电周期并在超过 PSU 上的电流限值之前非常短暂地开始开关、从而使系统关闭。 在这种情况下、芯片不会裸片、并且可以重复测试。 如果移除此输入电流限制（在电源上）、则芯片裸片消耗约 1.6A（并过热）、 DRV_SUP 永久短接至 PGND。
在所有情况下、芯片似乎都经历了切换 SW 节点以找出补偿网络（根据数据表上的 P21）的初始阶段、而不会出现问题、尽管这似乎并未持续完整的 40ms。
我怀疑故障出在 FET 驱动器方面、因为这也是 IC 在芯片发生故障时发出热量的一侧（通过热像仪看到）。
我们非常感谢您对此提供的任何帮助、如果需要、我很乐意提供更多信息。 在设计 PCB 时、我查阅 BQ25756 EVM 原理图以了解更多信息、并尽可能遵循数据表中的布局指南。
提前感谢！
