[参考译文] UCC5870-Q1：关于函数 BIST

尊敬的 Yuki：

1.您能否检查示波器上的 SPI 信号以确保它们符合器件的时序要求？

2.您是否遵循功能描述中给出的要求?

此致、

Max Verboncoeur

您好、Max
感谢您的及时回复。

1.我认为 SPI 信号满足要求、因为我们可以写入 CFG 寄存器并转换到运行状态。 第一次和第二次 CLR_STAT_REG 写入的波形完全相同。 为全面起见、我还尝试插入 NOP 传输、并在写入 GATE_OFF_CHK 与写入 CLR_STAT_REG 之间等待几百微秒、但结果并没有改变。 如果还有其他问题需要我检查、请告诉我。

2.在这种情况下、在启用 ITO1_EN、然后写入 PS_TSD_CHK_SEC 后、我能够生成故障；但是、我仍然无法使用 CLR_STAT_REG 清除该故障。 除了图 7-43 中所示的注意事项外、是否有任何其他针对发送每个通信帧的时序预防措施？

此致

尊敬的 Yuki：

发送命令后读回故障寄存器以清除故障的速度如何？ 可能需要等待更长的时间才能更新状态寄存器。

此致、

Max Verboncoeur

您好、Max、

在尝试使用函数 BIST 的各种操作后、我们观察到以下行为。 这是正常的吗？

・将 CONTROL2 中的*CHK 寄存器设置为 1 并运行 BIST 后、一些寄存器会自动返回到 0、而其他寄存器则不会返回。
・如果我们在 GATE_OFF_CHK 为 1 时清除故障、则寄存器将返回到  0.
・ DESAT_CHK 和 PS_TSD_CHK_SEC、  寄存器操作和 FAULT‑CLEAR 命令之间需要约 12ms；如果我们不等待、故障不会被清除。

尊敬的 Yuki：

可以肯定的是、在发送 SPI 命令之前、MCU 是否在控制 IN+和 IN-以使这些功能的输出处于正确的电平？

对于 GATE_OFF_CHK、栅极应处于低电平；对于 DESAT_CHK 和 PS_TSD_CHK_SEC、栅极应处于高电平。

此致、

Max Verboncoeur

您好、Max

是的。 −控制 IN+和 IN μ A、验证 OUTH 是否达到手册中指定的状态、然后执行 BIST。

此致、

こんにちはマックス、μ s

オシロスコープの波形が問題の解決に役立つ場合は、どの信号をキャプチャする必要があるかをお知らせください。μ s
または、すべてのBISTを順番に実行したときに得られたnFLT、Ω INP、OUT、CSの波形を、あなたの側で見せていただけますか？

よろしく μ s

您好、Max、

感谢您的检查。

我是否可以假设在 DESAT_CHK 和 PS_TSD_CHK_SEC 的等待时间也观察到了相同的行为？

此致、