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[参考译文] TPS548A28：相位短路测试

admin
Guru**** 2502205 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1560419/tps548a28-phase-short-test

部件号：TPS548A28


工具/软件：

您好、我们的客户希望在电源芯片上进行相位短路测试。 有两种类型：在通电前短路相位、在通电后短路相位。 这两种情况都要求 VRD 电源不会损坏、并且在故障消除后可以恢复正常。 对于电源芯片、此要求是否合理？ 根据功能方框图和原理、H-FET 是否可能烧毁？ 还有其他芯片解决方案吗？

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    TI__Guru**** 2502205 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Xujunfeng：  

    您讨论的是 SW 接地短路还是 SW 至 Vin 短接？ 两者都将导致损坏或潜在损坏。  

    SW 至接地将导致从 VIN 汲取大量电流、从而可能造成器件损坏和长期可靠性下降。

    SW 至 Vin 将导致出现较大的故障电流。 器件将损坏。

    我不确定是否有其他器件具有 SW 短路保护。

    此致、

    Ryan