[参考译文] UCC5881-Q1：UCC5881 在 3000VDC 系统中的兼容性

此外、UCC587x IC 的预期 EOL（停产）是什么时候？

尊敬的 Prathik：

要实现更高的工作隔离、您很可能需要一种多级拓扑或两个串联隔离栅。

我强烈建议使用 UCC5881-Q1 而不是 UCC587x-Q1 器件、因为 5881 可以显著提高特性和性能。

我认为我们没有此器件的 EOL 规格。 5871 使用与 UCC21520 相同的隔离技术、UCC21520 预计寿命为 29 年、因此可以放心地假设它与 UCC21520 相同（如果不相似）。

此致、

Max Verboncoeur

您好、Max、

我们暂时去掉拓扑（2L 或多级）。 在系统设计中、必须无限期地承受某些绝缘故障、这意味着高压和低压电路板之间的 IC 和电路板必须能够承受 3kVDC 的无限期电压。  

考虑到这一点、我们正在使用数字隔离器+隔离式栅极驱动器制定两级隔离策略。 为了安全起见、每个隔离栅必须能够持续承受总线总电压的至少 50%（但最好是 70%）。

基于此、您是否仍认为使用较新的 UCC588x IC 是安全的？ UCC5871 具有可持续承受 2KVDC 的增强型隔离、符合我们的设计要求、但 5880 和 5881 的额定电压均仅为 1.4kVDC、未达到我们的要求。

请告诉我您对此的想法。

此致、

Prathik

尊敬的 Prathik：

此图位于 UCC588 中 1. 我相信它将在下一个版本中加入到 5880 数据表中。 该图适用于这两种器件、因为它们使用相同的隔离技术。

此外、完整的 UCC5880 数据表受 NDA 限制。 请勿在公共论坛上发布完整数据表的图像或讨论确切的绩效/规格。 我将删除您的图片回复。

此致、

Max Verboncoeur

您好、Max、

我查看了 5881 IC 的 TDDB 曲线。 隔离层的寿命足够长、可以满足我们的隔离要求。 我想知道另外一件事、即 IC 对于高 dV/dt 应用（按照 50V/ns 到 100V/ns 的顺序）的适用性如何？ 通过 SiO2 隔离栅的噪声耦合是否足够低、不会成为问题？