工具/软件:
TI 团队大家好、
我们在应用中使用 BQ40Z80RSMR、并将其与 iWave (SMARC IMX8QMAEC) S5 和 S7 I2C 线路相连接。 我们在这些 I2C 线路上的 iWave SOM 附近添加了 33Ω、1/16W 串联端接电阻器、以及 BQ 侧的 1/10W 电阻器 100Ω。
我们观察到这些 I2C 串联端接电阻正在熔断。 最初、我们假设这可能是 ESD 事件导致的、因此我们在设计中添加了 TVS 二极管。 然而、我们仍然面临着相同的问题:即使有 ESD 保护、串联电阻也会继续熔断。
我们还与 iWave 团队沟通、以检查问题是否可能出现在 SOM 方面。 您能帮助我们研究 BQ40Z80 侧的原理图吗?
需要注意的一点是、尽管我们将 iWave SOM 的多条 I2C 线路用于其他接口、但仅当使用 BQ40Z80 IC 时才会出现此问题。
对于下一个版本、我们正在考虑将 33Ω 1/16W 电阻器替换为 1/4 W 器件。
能否请您就这些串联端接电阻器熔断的可能原因分享您的想法?
由于 NDA、我们无法公开分享原理图。 您能给我提供您的电子邮件 ID、以便我直接通过电子邮件分享原理图吗?
此问题非常关键、我们非常感谢您对解决此问题的支持。
谢谢、
Sonali