工具/软件:
尊敬的 TI 团队:
我发现在 BQ25720RSNR 充电器设计中、经过长时间的现场操作后、输入陶瓷电容器会出现间歇性故障。 器件通过了所有初始测试并在验证期间可靠运行、但在现场运行几周/月后、六个输入 10µF、50V X7R 陶瓷电容器 (C19–C24) 中的一个或多个将会短路。
输入: 24V 直流
输出: 高达 8.4V、最大 4A
输入电容器: 6 ×μ F 10µF、50V X7R MLCC
附加:1Ω 阻尼电阻器、0.47µF 电容器、TVS 二极管位于输入端
无明显损坏: 无裂纹、接头良好、离印刷电路板边缘的盖子>0.2 英寸
长时间使用后、故障会随机出现;并非所有电容器都总是故障、有时只是其中的一部分。 焊接/工艺良好、没有明显的物理/机械缺陷。
您能否建议可能的根本原因或改进、尤其是在此 IC 和应用的输入电容器选择方面? 任何针对高直流偏置/热插拔/VAP 场景的可靠性指南都将不胜感激。
附了原理图片段。 
