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https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1581981/bq25638-bq25638-esd-issue
你（们）好
如图所示、我们有一个采用 BQ25638 的产品。 在 SYS 和 GND 之间的静电放电 (ESD) 测试期间、SYS 和 BAT 之间的连接始终暂时断开、然后重新连接。 请问是否有方法可以确认此问题的原因？ 是否有方法可以改善这种情况、以便在 ESD 测试期间 SYS 和 GND 之间的 MOS 不会断开连接？
您好：
感谢您通过 E2E 联系我们。
在 ESD 测试期间、BQ25638 IC 是否由 VBUS 或 BAT 引脚供电？ 如果充电器 IC 未通电、SYS 和 BAT 引脚之间的内部 BATFET 将不会保持开启状态。
此致、
Garrett
