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[参考译文] BQ25898D:故障排除帮助

Guru**** 2611705 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ25898D

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1582589/bq25898d-troubleshooting-help

器件型号:BQ25898D


您好、TI 人

我的客户发现 BQ25898D 在大规模生产中的故障芯片。

芯片引脚阻抗没有显著变化。 BQ25898D 无法通信、也没有输出 (SW、SYS、PMID 处为 0V)。 我们怀疑芯片有内部损坏、因此我们在外部为 REGN 引脚提供了 4.0V 电压、以便预计会激活芯片。 当我从外部为 REGN 引脚供电时、我会注意到 SW 和 PMID 和 SYS 显示电池电压、这证明内部 MOS 正常工作。 但是、当我连接 USB Vbus 5V 时、I2C 中仍无法通信、也无法为电池充电。 驱动部分的控制电路可能出现故障。

是否有其他测试选项可帮助我找到问题? 我想找出损害的原因。 请给我一些建议、谢谢  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、

    我建议使用 A-B-A 交换、以确认行为是否遵循 IC、并且不特定于您观察上的行为的电路板。 确认 IC 上的正确焊接也很重要。

    我还会测量 VIN 和 VBAT 的漏电流、以便与规格进行比较。 偏离这一点似乎表明失败。 偏置 REGN 预计会导致 SW、SYS 和 PMID 上升、因为所有这些节点之间都有二极管和体二极管路径。

    发生损坏后、很难准确知道故障的原因是什么、因为它可能是控制电路或对 IC 的物理损坏。 如果多次发现此故障、或者担心可能再次发生、我建议联系现场质量工程师、了解如何继续。

    此致、

    Juan Ospina.

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    我们对 VIN 和 VBAT 进行了阻抗测试、结果是没有短路、阻抗为 MΩ Ω。 此外、由于该芯片用于手持设备、以防止客户跌落设备。 胶水涂抹在 BQ25898D 的表面、不能将其移除以进行 ABA 测试、去除胶水会导致芯片断裂。

    我们是否有更 详细的测试可以证明芯片是好的,但不起作用? 现场质量工程师需要 BU 同意这是一个质量问题、然后才能开始进行质量分析。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Tony:

    如果这是相关的损坏、很难确切地说器件会如何发生故障、因此除了通过 ATE 运行器件之外、实际上并没有具体的测试程序。 通常、将使用 A-B-A 交换来确认电路板上周围电路的其余部分正常工作、并且问题特定于 IC。 如果确认了该信息、则器件应完成故障 分析流程、以查看其在 ATE 测试中是否失败、并运行故障分析、以找出失败行为的原因。 为了通过 ATE 测试以确认芯片是否损坏、无论如何都必须从电路板上移除器件。

    施加在 VIN 引脚上测得的 5V 电压并在 PMID 上测量到 0V、会出现意外行为。 在 VBAT 上施加 4V 电压并在 SYS 上测量 0V(在必要时按下/QON 以确认退出运输模式后)也会显示意外行为。 在退货流程之外、我们无法轻松识别行为的实际原因。

    此致、

    Juan Ospina.