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器件型号： TPS1HTC30-Q1
我 在特定条件下看到器件型号 TPS1HTC30-Q1 的_FAULT 引脚存在一些奇数行为。 首先、以下是产品中的器件配置：
- 输入电压范围 16.0VDC 至 32VDC（标称值为 28VDC）
- ILIM 电阻器 33.2k 至电路常见（3A 标称电流限制）
- SNS 电阻器 1k Ω 到电路通用（未连接到其他电路）
- DIAG_EN 通过 10k 电阻拉至 3.3V
- 锁存器通过 10k 电阻器上拉至通用电路
- _fault 通过 10k 电阻器拉至 3.3V
- EN 通过 10k 电阻器推挽输出驱动为高电平 (3.3V)
我看到的奇数行为发生在低温 (–40°C) 和低输入电压（低于~18VDC）下。 在这些条件下、当输出短路时、每当芯片退出热关断并重试启用输出时、_FAULT 引脚都会表现出正向干扰（宽度~1.3us）。 最终,几秒钟后,这种行为消失（干扰停止）,但我想知道这些干扰的性质开始,因为它导致我们的一些测试失败。 在数据表中、根据我的配置、一旦器件进入热关断状态、_FAULT 引脚应该保持低电平、即使内核温度低于最大值减去迟滞电平并且输出重试（并进入电流限制状态）也是如此。
您能解释一下这种行为吗？ 请参阅随附的屏幕截图：通道 1 是发生输出短路时的电流；通道 2 是_FAULT 引脚电压。
我还发现、在上述条件下、我引入的“短路“信号中增加电感会在_fault 引脚上可靠地产生这些干扰、在某些情况下会无限期地产生这些干扰。 脉冲宽度也会增加。 我不会通过讨论我为什么会发生这种情况的理论来引导证人。 任何帮助都将非常感谢！
