[参考译文] UCC5880-Q1：验证 VCC2/VEE2 BIST 特性

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https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1626203/ucc5880-q1-verifying-the-vcc2-vee2-bist-feature

器件型号： UCC5880-Q1

您好 TI、

我们正在尝试验证安全机制 VEE2 BIST (SM #15)。

我们按照以下过程验证 VCC2/VEE2 BIST 特性 BIST

要取消为内部 BIST 电路供电（以使 BIST 不成功）、请断开 VCC2 和 VEE、存在 VCC1 5V
对电路板进行下电上电、以运行 UCC5880Q1 器件的 BIST。
监测 nFLT1

我们没有观察到 nFLT1 置为有效。

如果上述过程未提供 th 器件的预期行为、下面我来看看。

如果需要更多信息、请告诉我。

此致、

Anand M

3 个月前

0 admin 3 个月前

TI__Guru**** 2826755 points

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尊敬的 Anand：

该程序不会提供 BIST 故障。自动 BIST 检查（包括 VCC2/VEE2 BIST）会在复位状态下运行、并等待 VCC2 和高于 UV（欠压）的内部电源轨。当 VCC2 和内部电源轨准备就绪且高于 UV 时、UV UV 启动并运行带有内部基准电压的 VEE2/VCC2 BIST/OV 比较器的诊断、以检测 VEE2/OV 比较器的功能。因此、在定期上电且器件完好无损的情况下、上电后将看不到 BIST_FAULT。

此致、

Luwei

0 admin 3 个月前

TI__Guru**** 2826755 points

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尊敬的 Luwei：

感谢您的澄清和回答。

请问是否有任何方法可以通过 SPI 或修改硬件来测试该功能。

此致、

Anand M

0 admin 3 个月前

TI__Guru**** 2826755 points

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尊敬的 Anand：

制造后、非完整器件已经被屏蔽掉。因此、对于完好无损的器件、我们预计 VCC2/VEE2 会在工作台上产生 BIST_FAULT。如果您想检查 BIST_FAULT 功能、您可以移除所有栅极电阻器并将 OUTL 和 OUTH 保持悬空。然后、BIST_FAULT 应报告器件何时上电、因为它检测到通过 OUTL 和 OUTH 引脚连接实现的栅极监视器功能。

此致、

Luwei

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