[参考译文] BQ27542EVM：BQ27541DRZV200 寿命数据问题

您好：

此问题已分配给团队内部、我们将在  可能的情况下审核并与其他应用工程师跟进。 在此期间、请附加与项目关联的任何.log/.gg 文件

谢谢您、
Alan  

您有多少设备显示此问题？ 电量监测计用于记录温度的功能如下：

*打开热敏电阻（串联电阻）的偏置。
*测量 TS 上的电压
*使用线性化多项式将 NTC 的非线性响应转换为以 deci 开尔文为单位的温度（内部）
*将其转换为 deg.C
*记录寿命中的最小值/最大值

由于–761.2°C 表示不可能出现负开尔文、因此数据转换和/或存储器存在缺陷（single-bit 翻转）。 这是不可能的。

如果这是高 DPPM 问题、则可以选择 FA、但如果这是单个单元故障、则它可能在某个时刻受到损坏、并且全面分析似乎有问题。

尊敬的 Dominik：

 我们理解这似乎有问题、但我们的客户正在推动 TI 制定 FA–请告知执行 FA 的成本和提前期。

有多少设备受到影响？ DPPM 是什么？

在 6495 个中发现 6 个、DPPM 约为 923。

它们是否都显示相同的–761.2°C 错误、或者故障模式是否存在差异？

不同的是、我手上的另一个样品是–897.7°C

但它们都具有极端负温度、或者是否有另一个故障特征？

只有极端负温度、无其他故障特征。

我们有 2 个 IC 在这种问题手头,你能提供报价和交货时间的根本原因分析.