[参考译文] BQ25720：外壳温度过高

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https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1083196/bq25720-high-case-temperature

部件号：BQ25720
“线程： CSD”中讨论的其它部件

您好，

你好。我有一位客户正在与 BQ25720合作。请参阅下面他的问题以供参考。非常感谢。

BQ25720中的能量消耗有哪些因素？

在我们的设计中，我们观察到了60°C 的外壳温度，我知道，考虑到外壳顶部的电阻为26.1°C/W，环境温度为20°C，这大约是1.5W 在本例中，我们插入了一个充电器并协商为12V 输入。我们在模拟电压引脚上获得6V 电压。

作为参考，我们只有开关和电感器的热量上升最小。连接的电池为3芯电池组。

此致，

雷文森特

3 年多前

0 admin 3 年多前

TI__Guru**** 2540720 points

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您可以测量效率并与数据表曲线进行比较，或者获取评估套件并检查演示板温度。

0 admin 3 年多前

TI__Guru**** 2540720 points

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嗨，Tiger，

你好。请参阅以下客户对您的回复的回复。非常感谢。

这不是我的意思。我在数据表中没有找到有关充电控制器内各种能耗路径的信息。我知道 AVDD 系列由 VIN 或电池供电，但能耗是多少？你有 ADC 和比较器，我看到它们可以关闭，但还有什么呢？

此致，

雷文森特

0 admin 3 年多前

TI__Guru**** 2540720 points

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我们不提供零件内部的损失细目。客户不需要此信息进行设计。

0 admin 3 年多前

TI__Guru**** 2540720 points

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嗨，Tiger，

客户在这里。

不确定"损失细分"的含义。我只是想了解零件如何消耗能量。除了 ADC/比较器，还有什么会消耗电流的东西吗？

EVM 套件的预期温度上升应是多少？

我本来不希望在设计中看到1.5W 的计算损耗，所以我只是想弄清楚损耗的来源。

谢谢你，

康斯坦丁

0 admin 3 年多前

TI__Guru**** 2540720 points

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主要损失是开关 FET 的驱动损耗。如果怀疑发生异常损耗，建议订购 EVM。

0 admin 3 年多前

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我对 EVM 进行了测试，它在40C 左右时看起来确实稳定，而我们的设计却上升到60°C 我尝试用参考设计的 CSD 替换 N-FET，但这并没有改变温度上升。还有其他问题可以检查吗？

谢谢你，

康斯坦丁

0 admin 3 年多前

TI__Guru**** 2540720 points

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