[参考译文] BQ2.438万：非故障条件下的输出闭锁

我忘了添加电路图....

您好，Casey：

您认为您可以在TP331上获取范围捕获吗？
如果可以，也要捕获故障。

谢谢

随附的屏幕截图显示了输入，输出和故障信号。  它们是同一故障事件的缩小和放大版本。

感谢您的计划。

你能多帮我做些什么吗？
1.示意图显示您已将/CE连接至GND。 只需仔细检查/CE引脚不是浮动的。 我认为它确实存在，但只是为了检查一下。 它将阻止再次启动。
2.你可否再次检查你的3.3V上拉电压是否仍然存在？ 我注意到/故障引脚从高到低耗时4-5US。 检查you3，3V。
3.请参阅数据表的第9页。 您将看到Vo，短路将禁用FET。 我认为我们可以消除Vo，但我们仍然需要检查短路电流。 您认为您是否可以测量短路。

你的图解真的很有帮助…

我在下面附上了几幅额外的图。  第一个显示故障事件期间的芯片启用信号，第二个显示故障事件期间的3.3V，第三个(本着排除故障情形的精神)显示故障状态期间的VBAT。  

测量通过设备的瞬时电流可能会很困难。  我确实有一个差分探针，我可能会用一个小感应电阻器替换BQ2.438万输入侧的电感器，以便测量电阻器上的电压。  但是，我不确定是否有必要。  BQ2.438万上的过电流阈值为1.5A。  我正在使用PC上的USB端口为BQ2.438万的输入供电。  典型的USB端口仅允许500 mA电流。  如果BQ2.438万的电流为1.5A，我确信在输入电源过电流事件期间会出现一些干扰。  但是，在我提供的屏幕截图中，您不会在输入电源上看到任何高电流事件的指示。  尽管如此，我将为您提供一些非常有趣的额外信息。  我进行了一项测试，使用台式电源缓慢地提高电压，而不是仅仅为输入施加5V电压。  在此测试中，输出将每次都工作。  然后，我将提高输入电压，使其超过过压限制，并在适当的电压下跳闸故障。  但是，当将电压降至过压限值以下(减去滞后)时，故障保持活动状态。  直到我移除输入电压并允许其衰减，我才能够重新应用输入电压并使其正常工作。

我曾经认为，上升的趋势证明BQ2.438万在为1 UF电容器充电的初始浪涌电流方面存在问题。  但是，该零件设计为能够处理此问题。  数据表中有几个示例显示了浪涌限制的行为，我的屏幕截图看起来并不相似。  尽管如此，有趣的是，在我的上述测试中，故障在初始过压后从未消失。  故障电路是否存在内部问题？  也许我看到的第一个故障是由于急匆匆的原因，由于故障电路不工作，输出永远不会重新打开。

也存在过热故障情况。  但是，鉴于电流较低，我不确定是什么原因导致该跳闸。

您好，Casey：

一个快速问题。
是否恢复？
设备应尝试恢复。

不能，它不能恢复。 它甚至似乎没有尝试恢复。 这就是为什么我认为我运行的过压测试很有趣的原因。 这为我提供了一个基准测试，在该测试中，我知道故障是什么(过压)，当我消除故障条件时，部件无法恢复。 只有在去除输入电压并让部件断电后，它才会恢复。 正如您所提到的，它应该在故障条件消除后立即恢复。

您好，Casey：

你认为你可以把一块板给我吗？
如果是，我可以向您发送地址。

谢谢

我可以。  但我想让主板返回。  此电路位于相当复杂的装配体上。  主板的其余部分工作正常，我希望最终使用该主板。  我们的装配体数量有限。

您是否可以退回主板？

在20块板中，我有三块板的表现是这样的。

好的，

我不想再买主板了。 我可能需要调试您的主板，之后它可能无法使用。
它可能是坏的IC或板。

您的计划是什么？
您认为您可以用另一个IC替换吗？
如果它不起作用，我们需要关注您的主板。
如果工作正常，则我们的IC不好。

我们的主板没有问题。

你怎么看？
您是否可以更换另一个IC，我们可以在结果后进行讨论？

我当然可以更换IC，并在更换后验证它是否工作正常。  我会这样做并保存主板上原来的IC，以防您需要进一步分析。

谢谢你。

好的，

让我知道如何进行，然后我们可以讨论。

我更换了部件，新部件工作正常。  我们还有两台设备从现场返回，出现相同的故障。  TI是否可以对损坏的部件进行任何分析以提示可能发生的情况？  我们所掌握的任何信息都不能指出发生此类故障的事件。  我想知道这些可能是由于ESD事件造成的损坏。

ESD是一种可能性。 让我与我们的质量团队核实一下，并回复您。

您能否提供顶级营销服务？

我相信你的意思是“最高评分”……如果是的话，它是“CFE”。 如果你实际上是指"顶级营销"，那么我不知道你在寻找什么。

您好，Casey：

我正在转发来自CQE的响应。
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您好，Casey：

我是负责BQ2.438万的客户质量人员。 我不熟悉此设备，您的回答是正确的，所有设备的顶部标记将显示CFE。 重要的是上面和下面的“刻度”。 此设备对CFE上下两端使用US:DoD二进制年/月惯例。 以上和以下各项中应有0到4的组合。

我已经查看了BQ2.438万的设备历史记录，并且在2013年只发现一个来自任何记录客户的退货，结果证明是单个EOS类型的案例。 这表明设备不可能出现系统问题。

由于怀疑是EOS/ESD类型的事件，因此此事件的FA可能不会提供如何直接防止这种情况的深入见解，而只是识别受影响的引脚。 此时此刻，当出现这种情况时，TI建议检查批次历史记录，以查找可能在此时间范围内影响器件的晶圆或A/T偏移的任何证据。 假设没有，我们建议对该案例进行分类，假设问题不会持续到不同批次/批量的商品中。

好的。 在"F"上方有一个破折号，在"F"下方有两个破折号。

您好，Casey：

 

我们查看了批次历史记录，并能够根据您提供的信息找到批次。 这批货物没有出现问题，在装运后的3年里没有任何回报。

 

在这种情况下，我会考虑联系故障分析实验室，以帮助您进一步调试问题。 TI偶尔使用的一个此类实验室是Chip Targets LLC http://chiptargets.com/，您所在的地区可能还有其他类似背景的实验室。

 

如果情况仍然无法解决，请随时联系我们以获得更多帮助。