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[参考译文] LM5175-Q1:负载测试期间输出电压损失

Guru**** 2589265 points
Other Parts Discussed in Thread: LM5175-Q1

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1089241/lm5175-q1-loss-of-output-voltage-during-load-testing

部件号:LM5175-Q1

您好,我目前正在测试一种使用LM5175-Q1的设计,它具有6.5 -32V输入和24V 12A输出。 所有组件值 都是 从QuickStart工具派生的。 在负载测试0 3.5 安培时,电路在整个输入电压范围内正常工作。  

正在测试电路,输入电压为30V,负载电流为3.5A。 电路仍提供预期的24V输出。 在关闭电子负载几秒钟后,输出电压快速振荡,然后稳定到4伏左右。 此时,高侧降压MOSFET触感极热。 电路完全断开并冷却。

在持续卸载测试时,无论输入电压如何, 输出上的电压变化范围为0至4.5V左右。 降压和升压端MOSFET似乎同时切换。 无论输入如何,所有四个MOSFET门的占空比都保持不变。

以前我曾经历过降压侧门驱动器电路在测试中被破坏。 为解决此问题,在每个引导节点和交换节点之间安装了8.1V齐纳二极管。 我想知道当前的问题是否与稳定性有关,或者内部电路是否再次损坏。 如果是,您是否有任何想法可能会导致芯片损坏?

示意图(未显示8.1V齐纳二极管,未实施并行MOSFET):

PCB顶部和底部层:

7伏输入(HDRV1,LDRV1,HDRV2,LDRV1,SW1, SW2):

26 V输入 (HDRV1,LDRV1,HDRV2,LDRV1,SW1, SW2):

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好,Aidan:

    此外,刚刚将您的设计输入 到Excel  QuickStart工具中,获得以下相位裕度:

    16°(30V Vin / 12V A Iout)

    16°(30V输入/ 3.5 A输出)

    这是很低的。 相位余量应至少为45度,最好约为60度。

    因此,您的系统很有可能 在负载步骤上变得不稳定。 切换负载所触发的确切内容。

    请检查 QuickStart工具 以获得优化值。

    此致,

     Stefan

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    Stefan,您好!

    非常感谢您对此提供的反馈。 根据QuickStart工具,我已将电路调整为RC=2.67k CC1=18nF和CC2=22pF。 在对增加的相位余量进行这些调整后,电路肯定会有所改善。 在降压模式下,它看起来似乎仍然不是完全稳定。

    在超过24的特定电压下,无论负载如何,都会听到大量的电感器尖锐声,并在芯片周围探测到的多个波形上产生失真。 发生这种情况时,输出电压从24V上升到25V左右。  

    这是否仍是微调COMP引脚上的组件的问题?

    感谢您的持续支持。  

    此致,

    Aidan

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    您好,Aidan:

    我不认为这仍然是补偿,但您可以检查-仅为进行此测试-将交叉频率设置为更低的值,例如RC = 1k,CC1=800nF。

    这将使系统在装载步骤上的反应非常缓慢。 如果您仍然看到相同的行为,我们可以排除薪酬。

    如上所述,我不认为补偿是现在的问题,我假设这是您通过寄生电感和电容获得的一些共振。 ESP。查看您的布局时,您对您已完成的探测点设置有相当长的导线。

    您可以尝试通过进一步探究设计来找出这种振荡的根源,并添加小栅极电阻器以使切换速度变慢或在FET上添加缓冲器。

    但请同时查看数据表中的布局建议(第11章)

    此致,

     Stefan

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    您好,Aidan:

    我在过去13天内没有看到有关此主题的更新。
    所以我认为这个问题已经解决了。
    在这种情况下,最好按下"已解决"按钮。

    如果仍有问题,请告诉我新的详细信息。

    此致,
     Stefan

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    Stefan,您好!

    我们一直在开发布局更小的主板,并看到了良好的效果。 谢谢你。